苏州实谱仪器有限公司
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x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
技术参数：
1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）
2. 涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）
3. 厚度检出限：0.005μm
4. 成分检出限：1ppm
5. 小测量直径0.05mm（小测量面积0.002mm²）
6. 对焦距离：0-90mm
对常见的几种镀层作如下的介绍：
镀锌层：镀锌层在大气条件下对钢铁零件为阳性镀层，经各种钝化（彩色、黑色、黄色、军绿色、蓝白色）后，明显地提高了镀层的保护性能并改善了外观。主要用于防止钢铁零件的腐蚀，其镀层价格低廉，耐腐蚀性能优良，应用量大面广。
镀隔层：镀镉层在海洋和高温大气的环境中，对钢铁零件为阳性镀层，镀层比较稳定，耐腐蚀性强，润滑性能好，在航空及电子工业中应用较多。
镀锡层：镀锡层对钢铁件为阴性镀层。因此，只有当镀层无孔隙时才能机械地保护钢铁零件不被腐蚀。它具有较高的化学稳定性，与硫及硫化物几乎不起作用，焊接性能良好，对渗氮有屏蔽作用。
产品优势：
微小样品检测：小测量面积0.03mm²（加长测量时间可小至0.01mm²）
变焦装置算法：可改变测量距离测量凹凸异形样品，变焦距离可达0-30mm
*的EFP算法：Li（3）-U（92）元素的涂镀层，多层多元素，甚至有同种元素在不同层也测量
的解谱技术：减少能量相近元素的干扰，降低检出限
高性能探测器：SDD硅漂移窗口面积25/50mm²探测器
光路系统：微焦加强型射线管搭配聚焦、光路交换装置
多准直器自动切换
苏州实谱信息科技有限公司是一家立志于研发和制造国际分析仪器和打造强国的。拥有的研发团队，开创了全新一代EFP核心算法，开发了高集成的四焦技术、闭环移动控制及AI影像识别。为微小面积、异形高低面探测、多层多元素与多层同元素的检测提供稳定，国际水准的无损自动检测解决方案。公司现有高性能X荧光测厚仪、多功能全自动X荧光测厚仪、多用途全性能X荧光光谱仪、真空腔体**X荧光光谱仪等多个系列几十种型号仪器，可广泛的应用于新能源、半导体、精密电子、环保rohs、地质地矿、电子元器件、贵金属行业、五金卫浴、5G通讯、电镀产业、航空航天等行业领域。
