dm5e测厚仪使用说明书
价格：198000.00起
苏州实谱仪器有限公司
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行 业：仪器仪表 机械量测量仪表 测厚仪
发布时间：2022-07-18
x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
能量色散X荧光光谱分析仪，是一款配备SDD探测器的率光谱分析仪！
此款产品可适用于固体和液体的含量检测，用于液体中高含量金属成分的检测，满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和的光路转换聚焦系统，以及高敏变焦测距装置，可测试微小和异形样品。
含量分析检出限1ppm，可检测镀层厚度0.005um ，小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm，要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨，可以快速控制样品移动，移动精度0.005mm，速度10-30mm（X-Y）/圈，再小再多的样品测试都可轻松操作。
由于化学镍镀层成分中含有磷（P）等X射线无法检出的轻金属元素，加上在不同应用领域中，P的含量高低不一等因素，以往采用的库伦法，X射线法等测量方法都存在准确度，可重现性等方面的不足。
库伦法因磷没有参与电化学反映，或者即使参与了反映，磷的反应与镍的反应过程与结果相差很大，造成仪器没有将磷在镀层中的存在的事实给与真实反映，由此造成测量的误差。传统的X射线检测时，由于镀层成分中的P比例是在不停变化的，通过固定镍与磷的比例的检测方法已不能完全反映样品的真实情况，造成测量的误差。
XTU不仅能测试化学镍的厚度，同时还能计算出成分中镍和磷的含量比例，很好的反应出产品的真实情况
达克罗是DACROMET译音和缩写，简称达克罗、达克锈、迪克龙。
达克罗表面处理工艺具有很强的耐腐蚀性能，无氢脆性，高耐热性等优点，被广泛应用在*工业、汽车零部件、电力、建筑、海洋工程、家用电器、小五金及标准件、铁路、桥梁、隧道、公路护栏、石油化工、生物工程、器械粉末冶金等多种行业中。
技术难点：
长久以来由于达克罗种类繁多，成分中又有Al等X射线无法检出的轻金属元素，X荧光法一直无法在达克罗测厚应用。
XTU可完全覆盖五金类镀种，包括达克罗检测，不但可以测量出锌铝合金镀层的厚度，还可以分析出锌铝合金的含量。
应用领域：
广泛应用于电镀镀层厚度分析、接插件等电子元器件检测、紧固件行业、五金行业（家用设备及配件等，如Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)）、汽车零部件、配饰厚度分析、新能源行业（光伏焊带丝等）、汝铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB、电镀液的金属阳离子检测等多种领域。
类似于其他高科技产业，通用电子测试仪器行业面对的技术积累也不是一两个单的技术方向，它以电子技术为基础，是一个融合多学科、多种技术的基础性行业，比如用到的技术就有电子测量技术、射频微波设计技术、数字信号处理技术、微电子技术、计算机技术、软件技术、通信技术等。因此呢，通用电子测试测量仪器属于是技术密集、知识密集型产品，属于科研仪器设备，也是国家十四五发展规划鼓励和支持的产业。其主要的几类产品学科交叉度大，理论相对复杂，开发难度大，需要较长时间积累，特别考验一个国家在技术基础的深度和厚度，这也是为何目前中国通用电子测试测量仪器发展相比发达国家有较大差距的原因。
