电子元器件阻容感二次筛选的机构-AEC-Q101-AECQ认证
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关 键 词：电子元器件阻容感二次筛选的机构
行 业：汽配 汽车横向件 汽车检测设备
发布时间：2022-07-12
广电计量可按GJB1032-90、GJB451-90、MIL-STD-721C-81、MIL-STD-785B-80等开展产品研制生产及使用过程中的产品环境应力筛选试验。根据条件是否有必要来确定常规筛选或是定量筛选，根据不同阶段和产品的特征制订筛选方案。可在元件、器件、连接器等产品或整机系统中进行，根据要求不同可以开展不同的应力筛选试验。
元器件检测室拥有集成电路测试仪、分立器件测试仪、RLC测试仪、电磁继电器测试仪、运放测试仪、DC/DC模块测试仪、颗粒碰撞噪声检测仪、温度冲击箱、离心机、多功能综合老化系统、集成电路高温动态老化系统、电容器高温老化台、DC/DC模块老化系统、高温反偏试验箱、高低温试验箱、冲氦充氮氟油平台、氦质谱检漏仪等国内测试设备。具备大、中、小规模集成电路（TTL、CMOS、GAL、ACT、通用运放、电压调整器、非线性电路、A/D、D/A、V/F、F/V、驱动器、时基、单片CPU、MP接口、RAM、EPROM、锁相环等器件），分立器件（开关、整流、变容、稳压、稳流、光电、场效应、闸流、可控硅、光电耦合器等分立器件）、元件（电阻、电位器、电阻网络、电感、电容器、线圈、继电器等）测试能力，可检测的元器件品种达5000种以上。
可靠性试验技术
可靠性试验为发现产品在设计、材料和工艺方面的各种缺陷；为改善产品的战备完好性、提高任务成功率、减少维修**费用提供信息；确认是否符合规定的可靠性定量要求。广电计量可按GJB 899A-2009装备可靠性鉴定和验收试验、GJB 1407-2009装备可靠性增长试验等标准进行可靠性鉴定试验、可靠性验收试验、可靠性增长试验。可配套综合环境试验设备（温度+湿度+振动+电应力）、HALT、HASS箱等按产品的使用环境设计及开展可靠性试验和可靠性强化试验等，负载：3000kg、加速度：100g；温度范围：-70℃到+150℃，湿度范围为 20%-98%RH，电应力为：0-450V AC,0-100V DC，在全国有50多套三综合试验系统，其中有多套20吨+22立方综合箱，可开展大型系统产品的可靠性试验。
可靠性评估技术
可靠性评估就是利用产品寿命周期各阶段所产生的试验或使用信息，用概率统计的方法给出产品在某一特定条件下的可靠性特征量的估计值，一般为给定置信度下的产品可靠性参数，如平均故障间隔时间、可靠度、无故障运行时间等的下限估计值。
进行装备可靠性评估的程序、方法以及数据处理、评估时遵循的原则及工程实施的约定,并结合实际型号开展了可靠性评估工作。具备开展单元可靠性评估和系统可靠性评估的能力。其中单元可靠性评估主要包括各类统计模型数据的可靠度点估计和给定置信度的单边和双边置信限评估，如二项分布、指数分布、Weibull分布、正态分布、对数正态分布等。系统综合可靠性评估方法包括小子样贝叶斯方法和计算机仿真方法。其中小子样Bayes方法是解决可靠性信息不足的有效方法之一，也是目前装备研制阶段“小子样、多阶段、异总体”情况下值得推荐的方法。另一个解决复杂系统的可靠性综合评估方法是计算机仿真技术，对未知分布形式的单元或系统有很好的效果。
广电计量一直致力于产品研制和生产阶段环境与可靠性试验的研究及技术服务，从产品技术研发、设计、定型、样品生产到量产质控，提供一站式的环境与可靠性试验解决方案，为您提高产品的可靠性、稳定性、环境适应性和安全性，缩短产品的研发和生产周期，保驾**。
满足IEC、ISO，GB、GJB，EIA、ASTM、IPC、ISTA、JEDEC、SAE，JIS、MIL等、国家及行业标准的测试要求，开展气候环境、机械环境、生物环境、化学环境和综合环境绝大多数项目的试验和测试，同时可提供整车环境试验，失效分析和元器件筛选，可靠性优化设计与分析，可靠性试验与评估，以及可靠性方案和整改建议等技术服务，可对试验中的产品及材料进行电学、磁学、表观性能监测。
元器件二次筛选程序的制定依据：
1、原则上应根据元器件现场使用或可靠性试验统计，对失效产品进行失效分析，搞清各种元器件的失效模式和失效机理，针对元器件内部存在的缺陷，采取不同的应力，使有缺陷的能提前暴露，将其剔除，而对良品则不受到任何损伤。对制定的各项筛选应力应通过大量的试验验证，并对失效样品进行失效分析，经过充分论证来确定。
2、根据现行标准，比如以GJ4、GJB128、GJB360等标准为基础 考虑整机系统对元器件的可靠性要求 3、考虑元器件使用环境条件、经费、研制周期4、筛选规定不是永远不变的，要根据元器件制造技术的提高，试验设备的发展，对元器件可靠性要求的不同进行更改
外观检查：参考： GJB 128A-1997 方法2071、 GJB 548B - 2005方法2009.1等
电测试：常温测试、低温测试、高温测试依据：GB、GJB、元器件规格书电测试设备，包含电参数测试和功能测试
环境应力检测：扫频/随机振动、低温/高温存储、温度循环/温度冲击、恒定加速度或跌落、粒子碰撞噪声检测（PIND）
寿命/老化/老炼：老炼前/后电测试反偏老炼，功率老炼等老炼箱、老炼板
密封：细检漏、粗检漏
扫描声学显微镜检查：高可靠性要求
X射线照相：参考：GJB 360A-1996 方法209、 GJB 128A-1997 方法2076、 GJB 548B-2005方法2012.1等
筛选设备：
电测试主要设备能力：阻抗分析仪，高阻计，耐压测试仪，半导体参数测试系统，高精度图示仪，网络分析仪，信号发生器，频谱分析仪，数字集成电路测试系统，模拟集成电路测试系统，继电器测试系统，LCR、电阻计等，电源模块测试系统
