手持xrf矿物分析仪价格
价格：250000.00起
苏州实谱仪器有限公司
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行 业：仪器仪表 分析仪器 X射线仪器
发布时间：2022-06-24
x射线荧光光谱仪产品详细资料介绍 ，XRF光谱分析仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光分析仪产品报价和资料。EDX8000H采用抽真空测试技术，能够很好的对轻元素进行分析和测试。 测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）。
x荧光光谱仪使用中常见的问题及注意事项
1、过滤时有时会出现流动相漏液。可能的原因是滤膜放置不正确和接头有点错位，导致流动相从缝隙中漏出。
注意：操作时，应先向滤瓶内倒入少量流动相，观察是否漏液并开始过滤，若未漏液，再向滤瓶中添加流动相。
2、超声时，瓶外液体的液面应**瓶内流动相的液面，否则流动相内的气体可能无法排出液体，气体仍然残留在流动相内，以致开机排气时无气泡排出。
3、开机排气结束后，应先将流动相流量调小，再关闭排气阀，否则会导致柱压瞬间升高**过压力上限，致使泵停止工作。
4、反相LC液相色谱仪冲洗柱子时，应尽量避免使用纯水流动相冲洗柱子，因为水性强，会损害色谱柱，导致柱效下降。
5、冲洗色谱柱时，还可以不同比例的混合流动相冲洗色谱柱，以冲出不同性的残留物质，但还是要用纯**流动相冲洗色谱柱一段时间。
6、在实验过程中会出现压力**过上限或压力偏高，有可能是柱内有残留物质未被冲出，此时应用较大流速的**流动相充分冲洗色谱柱。若条件允许，也可采用梯度洗脱的方式冲洗色谱柱。压力过高也有可能是滤头堵塞，此时可将滤头取出放到中超声。
7、若隔天或更长时间不使用LC液相色谱仪，应将两流动相瓶中均倒入纯的**流动相（因为水流动相长时间不用会滋生，污染滤头和色谱柱，导致下次开机使用时会出现鬼峰，基线不稳）。
8、进样时所进样品的体积应不小于色谱柱的容积，且进样时器里的气泡一定要排出，不可将气泡打进色谱柱。
X荧光光谱仪测试方法及结果
经上述控制方案的设计后，按照《JJG 810-1993波长色散X射线荧光光谱仪检定规程》的要求对各器件切换的精密度进行了检定。精密度以20次连续重复测量的相对标准偏差RSD表示。每次测量都必须改变晶体、准直器和滤波片的位置条件。
RSD计算方法如下：
顺序式公式1.jpg(1)
顺序式公式2.jpg(2)
顺序式公式3.jpg(3)
顺序式公式4.jpg(4)
式中：
Ii——i次测量的计数率;
T——测量的时间;
n——测量的次数;
顺序式公式5.jpg——n次测量的平均计数;
S——n次测量的标准偏差。
连续20次测量中，如有数据**出平均值±3S，实验应重做。
通过不做任何变化的计数涨落试验、准直器重现性试验、晶体重现性试验和滤光片重现性试验分别测量时间10s，交替测量20次并记录与涨落试验同条件的CuKα的计数率值。后与国标**的结果和其他同类仪器的性能对比如表1所示。
技术指标高灵敏度探测器（分辨率达149Ev），精密的放大电路，
提高Cd、Pb元素的灵度。
检出下限(Cd/Pd)：Cd/Cr/Hg/Br≦2ppm,Pb≦5ppm
样品形状：任意大小，任意不规则形状
样品类型：塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
小样品腔尺寸：300×300×100mm
大样品腔尺寸：样品尺寸不受限制
X射线管：靶材/Mo管电压/5～50kV管电流/1～1000μA
照射直径：2、5、8mm
探测器：Si(PIN)半导体高灵敏度探测器
滤光片：八种新型滤光片自动选择
样品定位：微动载物平台（选配）
样品观察：130万分辨率彩色CCD摄像机
微区分析：X光聚焦微区分析系统（选配）软件
定量分析：理论Alpha
X荧光光谱仪分析粉末样品主要有两种方法：
①、熔融法。熔融法是应用较多的一种制样方法，它较好地消除了颗粒度效应和矿物效应的影响。但熔融法也有缺点：因样品被熔剂稀释和吸收，使轻元素的测量强度减小；制样复杂，要花费大量时间；成本也较高。
②、粉末压片法
粉末压片法的优点是简单、快速、经济，在分析工作量大、分析精度要求不太高时应用很普遍，也常用于痕量元素的分析。在实际应用如水泥、岩石、化探样品的分析中，粉末压片是一种应用很广泛的X荧光光谱仪制样法。
工作曲线自动选择模块
自动选择工作曲线，摒弃手动选择，避免人为操作失误，将自动化和智能化
演绎得更，使操作更人性，更方便。
软件JPSPEC-FP
针对金属材料元素成份检测而开发（含真空控制功能），对采集的光谱信号进行数据处理、计算并报告显示测量结果。
应对不同矿产材料可调式数据，测量时间为100-300秒（可调）
操作界面简洁直观，使用方便，*人士操作
