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关 键 词:电镀膜厚测试仪参数
行 业:仪器仪表 机械量测量仪表 测厚仪
发布时间:2022-06-16
x射线荧光镀层测厚仪产品资料介绍,x射线荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置由苏州实谱信息科技有限公司提供镀层测厚仪的产品说明和报价。thick880基于xrf原理的荧光无损能谱分析方法,属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时,其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线,不同的元素有不同的特征X射线;探测器探测到这些特征X射线后,将其光信号转变为模拟电信号;经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理;计算机的应用软件根据获取的谱峰信息,通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
X荧光镀层测厚仪广泛应用于金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定电镀、PCB、电子电器、气配五金、卫浴等行业 天瑞仪器有限公司生产的光伏材料金属镀层测厚仪系列在电镀检测行业中, 针对上述五项需求的应用。
能量色散X荧光光谱仪系列在电镀检测行业中具有以下特点
快速:1分钟就可以测定样品镀层的厚度,并达到测量精度要求。
方便:X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器,能量分辨率更优于eV,测试精度更高。并且不用液氮制冷,不用定期补充液氮,操作使用更加方便,并且运行成本比同类的其他产品更低。
无损:测试前后,样品无任何形式的变化。
直观:实时谱图,可直观显示元素含量。
测试范围广:X荧光光谱仪,是一种物理分析方法,其分析与样品的化学结合状态无关。对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析,抽真空可以测试从Na到U。
可靠性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析精度、重复性与稳定性很高。所以,其测量的可靠性更高。
满足不同需求:测试软件为WINDOWS操作系统软件,操作方便、功能强大,软件可仪器状态,设定仪器参数,并就有多种的分析方法,工作曲线制作方法灵活多样,方便满足不同客户不同样品的测试需要。
性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。
简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。
X荧光镀层测厚仪性价比高:相比化学分析类仪器,X荧光光谱仪在总体使用成本上有优势的,可以让更多的企业和厂家接受。简易:对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。天瑞一直致力于分析仪器事业,相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案和服务。
X荧光镀层测厚仪特点-简易:
对人员技术要求较低,操作简单方便,并且维护简单方便。天瑞一直致力于分析仪器事业,相信天瑞会为电镀行业的客户提供有竞争力的解决方案和服务。
X荧光测厚仪采用X荧光分析技术,可以测定各种金属镀层的厚度,包括单层、双层、多层及合金镀层等,它也可以进行电镀液的成分浓度测定。它能检测出常见金属镀层厚度,无需样品预处理;分析时间短,仅为数十秒;即可分析出各金属镀层的厚度,分析测量动态范围宽,可从0.01M到60M。它是一种能谱分析方法,属于物理分析方法。当镀层样品在受到X射线照射时,其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自的特征X射线,探测器探测到这些特征X射线后,将其光信号转变为模拟电信号;经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理;计算机的应用软件根据获取的谱峰信息,通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的种类及各元素的镀层厚度。
我公司集中了国内的X荧光分析﹑电子技术等行业技术研究开发及生产技术人员,依靠多年的科学研究,总结多年的现场应用实践经验,结合中国的特色,开发生产出的X荧光测厚仪具有快速、准确、简便、实用等优点。
只要客户方的系统存在问题,请即刻我司的售后服务电话由我司技术远程用户解决问题。
当客户方的系统被诊断为系统故障,而无法通过电话/电子邮件方式、远程拨入分析等手段解决时,我们的现场会带上相应的系统工具和软件立即赶赴现场进行紧急维护。我司承诺在接到维修及技术服务要求后立即做出相应,在远程不能解决问题的情况下,我司工程人员将在内赶到现场,48小时解决出现的问题,保证系统恢复正常运行。
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以上客户服务响应方式并不是相互孤立、互不相关的,而是以公司的客户服务中心的组织结构为依托,多种灵活的服务方式相互渗透、紧密结合成为完整统一的客户服务故障响应体系。这种体系经多个大型工作项目的实际运行体验,以被认为是可行的故障响应方式。