能量色散x荧光光谱仪 x射线荧光光谱仪检定规程
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关 键 词：x射线荧光光谱仪检定规程
行 业：仪器仪表 分析仪器 成份分析仪
发布时间：2022-06-09
x荧光光谱仪样品种类样品状态一般有固体块状样品、粉末样品和液体样品等。
（1）固体块状样品包括黑色金属、有色金属、电镀板、硅片、塑料制品及橡胶制品等，其中金属材料占了很大的比例。
（2）粉末样品包括各种矿产品，水泥及其原材料，金属冶炼的原材料和副产品如铁矿石、煤、炉渣等；还有岩石土壤等。
（3）液体样品油类产品、水质样品以及通过化学方法将固体转换成的溶液等
X荧光光谱仪在铜检测方面的应用方案
X荧光光谱仪用于各种金属材料中各种化学元素的成分分析。用于原材料检验，冶炼生产过程成分控制，成品元素成分定值及其它应用,以检测铜合金的炉前快速分析和成品分析，控制铜合金中的各成分含量，从而在满足客户的技术要求下控制铜的含量以降低生产成本。
该技术的主要特征为：利用低能量X射线照射测试样品，试样中的一些原子将发射具用自身特征X射线荧光，从而识别这些元素，同时无损检测其含量。天瑞仪器光谱仪采用现代的角度照射及准直器和滤光片自动组合系统，实现了分析光谱的全谱分析。设计的激发光源，使金属材料的成份分析进入了一个新的时代。的分析性能、短的分析时间、低的运行维护成本、智能化的操作模式，使样品分析简单易行。可以广泛适用于铜合金、铝合金、锌合金、镍合金、钛合金、钴合金、不锈钢等金属样品的成分分析。X荧光光谱仪是当今金属分析的选择，同时可以轻松面对未来分析的高要求，不添加任何硬件设施，即可升级分析功能，方便灵活地随生产发展的需要增加分析的元素及合金种类。
铜的相关规定
我国铜及铜合金标准化工作进展迅速，有关铜的标准分为类：
一为基础标准，其中GB5231—2001规定了加工铜及铜合金化学成份及产品形状；
二为化学分析方法标准，规定了铜及合金中主成份和杂质元素的化学分析方法；
三为理化性能试验方法，其中包括了电阻系数、超声波探伤、涡流探伤、残余应力、脱锌腐蚀、无氧铜含氧量、断口、晶粒度等规定方法；
四为产品标准，其中包括阴铜、电工用铜线锭、铸造黄铜锭、铸造青铜锭、粗铜、硫酸铜、铜铍中间合金、铜中间合金、铜精矿以及铜及合金加工材标准。
我国除标准外，还有行业标准和企业标准，为满足产品开发的需要，供需双方还可商定技术条件。
测量元素范围：从钠（Na）至铀（U）
元素含量分析范围：1ppm—
同时分析元素：24种元素同时分析
测量镀层：镀层厚度测量薄至0.005微米，可分析5层以上的镀层
分析精度：0.05%
测量对象状态：粉末、固体、液体
测量时间：60s—200s
能量分辨率为：（150±5）eV
管压：5KV—50KV
管流：50uA—1000uA
标准配置
电制冷UHRD探测器
信噪比增强器
光路增强系统
内置高清晰摄像头
可自动切换型准直器和滤光片
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定性波长的X射线，根据莫斯莱定律，荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关，其数学关系如下：
λ=K(Z− s) −2
式中K和S是常数。
而根据**理论，X射线可以看成由一种**或光子组成的粒子流，每个光具有的能量为：
E=hν=h C/λ
式中，E为X射线光子的能量，单位为keV；h为普朗克常数；ν为光波的频率；C为光速。
因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
