苏州实谱仪器有限公司
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x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
随着科技的不断发展和创新，人们对于日常使用物品的外观和实用性要求也越来越高，于是装饰铬的应用领域也是越来越广，不管是汽车门把手，以及各种零配件，家用的卫浴，门把手等等工件上面都可以看到它们的身影。镀铬的工艺种类其实有很多，例如有防护性的装饰铬，耐磨性的镀硬铬，镀乳白铬，镀松孔铬，镀黑铬等等。
技术难点：
装饰类镀铬行业的测试难点主要体现在一下几个方面：
1.样品结构比较复杂，需要检测的区域高低不一。
2.样品表面的装饰Cr镀层一般在0.5um以下，Cr在元素周期表中靠前，其X射线荧光能量较弱，加上在异形件测试中，由于测试高度的变化,Cr荧光能量损耗严重，导致测试结果发生偏差。
3.塑料基材类的镀层，由于汽车行业的需求，镀铜镀镍层一般都很厚，底层的铜层由于Ni层较厚，铜层荧光不能穿透出来被接受，导致铜层无法测试。
4.而较薄的镀铜镍铬产品，在电镀时，塑料基体的正面和背面都有电镀，背面的铜镍的荧光可以轻易穿透基材塑料，从而被仪器接收，造成测试结果不能反映产品的真实镀层情况。
*的XTD系列仪器，采用上照式的设计结构，加上自动/手动对焦以及变焦功能，轻松应对各种复杂结构的样品的测试。焦结构的设计加上EFP软件的距离补偿算法，自动补偿因测试距离变长导致的X射线荧光能量的衰减，测试结果更加准确。
随着科技的发展，越来越多的行业开始采用镀金表面处理，用于提升产品的综合质量。电镀金镀层耐蚀性强，导电性好，易于焊接，耐高温，并具有一定的耐磨性(如掺有少量其他元素的硬金)，有良好的抗变色能力，同时金合金镀层有多种色调，在银上镀金可防止变色。并且镀层的延展性好，易抛光，故常用作装饰性镀层，如镀饰、钟表零件、艺术品等；也广泛应用于精密仪器仪表、印刷板、集成电路、电子管壳、电接点等要求电参数性能长期稳定的零件电镀，但由于金的价格昂贵，应用受到一定限制。
技术难点：
故此镀金产品对于镀层的管控为的严格，然而由于镀层很薄，能量弱，稳定性差，想要良好的管控成本及产品质量，就需要一台性能很好的光谱仪进行检测分析。
XAU-4CS可满足精密电子类客户对于薄金纳米级厚度的管控，实现检测同一个点的薄金厚度，差稳定在1个纳米。
由于化学镍镀层成分中含有磷（P）等X射线无法检出的轻金属元素，加上在不同应用领域中，P的含量高低不一等因素，以往采用的库伦法，X射线法等测量方法都存在准确度，可重现性等方面的不足。
库伦法因磷没有参与电化学反映，或者即使参与了反映，磷的反应与镍的反应过程与结果相差很大，造成仪器没有将磷在镀层中的存在的事实给与真实反映，由此造成测量的误差。传统的X射线检测时，由于镀层成分中的P比例是在不停变化的，通过固定镍与磷的比例的检测方法已不能完全反映样品的真实情况，造成测量的误差。
XTU不仅能测试化学镍的厚度，同时还能计算出成分中镍和磷的含量比例，很好的反应出产品的真实情况
技术参数：
1. 元素分析范围：氯（Cl）- 铀（U）
2. 涂镀层分析范围：锂（Li）- 铀（U）
3. 厚度检出限：0.005μm
4. 成分检出限：1ppm
5. 小测量直径0.05mm（小测量面积0.002mm²）
6. 对焦距离：0-90mm
国内通用电子测试测量仪器企业的技术水平与国外优势企业存在一定差距，尤其是数字示波器以及任意波形发生器产品，国外企业的产品带宽和输出频率比国内的水平还高很多。这种档次划分标准主要依据产品技术门槛、批量生产、成功市场化的难易程度进行划分，综合考虑了我国通用电子测试测量仪器的整体产业现状，可以作为在当前阶段全国范围内对行业内企业的参考标准。
