苏州实谱仪器有限公司
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x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍，x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑，模块精密化程度高的光谱分析仪，采用了下照式C型腔体设计，是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术，既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能，又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
镀铜层：镀铜层对锌、铁等金属为阴性镀层，常常用于各种金属基体或某些塑料上作为镀铜/镍防护-装饰性镀层的底层或中间层，也可用于印刷电路、电铸模等方面。
镀镍层：镀镍层对钢铁零件为阴性镀层，它具有较高的硬度，抗蚀性比铜高，能耐碱，也比较能耐酸。常用于钢铁零件的镀铜/镍/铬防护-装饰性镀层的中间层及酸性镀铜前的预镀。
镀铬层：镀铬层对钢铁零件为阴性镀层。它具有较高的耐热性，常温下硬度好，耐磨性好，光反射性强，被广泛用于提高零件的硬度、耐磨性、光反射性以及修复尺寸和装饰等方面。
镀银层：镀银层对于常用金属为阴镀层，其导电、焊钎性能优良，化学性质稳定，主要用于电器工业中的导电部件及其焊接部位，还用于防护-装饰性镀层，如乐器、餐具、光学仪器及工艺品。
单涂镀层应用：如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂镀层应用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金镀层应用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分应用：如NiP/Fe，通过EFP算法，在计算镍磷镀层厚度的同时，还可分析出镍磷含量比例。
重复镀层应用：不同层有相同元素，也可测量和分析。
如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，层Ni和*三层Ni的厚度均可测量。
仪器配置：
1.微焦X射线发生器
2.光路转换聚焦系统
3.高敏变焦测距装置
4.半导体冷却硅漂移SDD探测器
5.的数字多道分析
6.高精度微型移动滑轨
7.标准片Ni/Fe 5um
8.标准片Au/Ni/Cu 0.1um/2um
由于化学镍镀层成分中含有磷（P）等X射线无法检出的轻金属元素，加上在不同应用领域中，P的含量高低不一等因素，以往采用的库伦法，X射线法等测量方法都存在准确度，可重现性等方面的不足。
库伦法因磷没有参与电化学反映，或者即使参与了反映，磷的反应与镍的反应过程与结果相差很大，造成仪器没有将磷在镀层中的存在的事实给与真实反映，由此造成测量的误差。传统的X射线检测时，由于镀层成分中的P比例是在不停变化的，通过固定镍与磷的比例的检测方法已不能完全反映样品的真实情况，造成测量的误差。
XTU不仅能测试化学镍的厚度，同时还能计算出成分中镍和磷的含量比例，很好的反应出产品的真实情况
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