失效分析仪器-宁波失效分析-苏州特斯特电子
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行 业：教育装备 光学仪器 显微镜
发布时间：2022-04-21
微焦点技术以其优越的成像性能得到了越来越多的关注与应用。该技术可以弥补常规射线照相技术的不足，在实时成像检测及工业x射线检测领域有着广泛的应用前景。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等先进测试设备制造国家。
Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美**和 JEDEC 标准.
Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，设备失效分析，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性，热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，失效分析仪器，热导率及焊点可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家客户.
主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，宁波失效分析，LED，MOSFET，MESFET ，IGBT，IC 等分立功率器件的热阻测试及分析。
射线照相法（RT）是指用X射线或γ射线穿透试件，以胶片作为记录信息的器材的无损检测方法，该方法是基本的，应用的一种非破坏性检验方法。原理：射线能穿透肉眼无法穿透的物质使胶片感光，当X射线或γ射线照射胶片时，元器件失效分析，与普通光线一样，能使胶片乳剂层中的卤化银产生潜影，由于不同密度的物质对射线的吸收系数不同，照射到胶片各处的射线强度也就会产生差异，便可根据暗室处理后的底片各处黑度差来判别缺陷。
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