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发布时间：2022-02-12
如产品内有热产生，但没有热传输到周围空气中，则产品温度将不断上升。实际上，产品所产生的热是不断向周围环境空气发散的，后，产品所产生的热与耗散在周围冷却空气中的热相平衡，使产品温度达到稳定。只有当环境温度上升(或下降)时，产品内部的温度才会随着进一步的上升(或下降).直至达到新的平衡为止。
对于这种情形，基准环境温度应这样来确定，步入式高低温交变试验箱，使能得到简单而又重现得好的热传输条件。由于热传输是由对流、辐射和传导三种不同方式来进行的，所以必须对每-种方式分别而又同时获得明确的规定条件。
若是多个试验样品在同一高低温试验箱（室）进行高温试验时，就应保证所有试验样品都处在同一环境温度下，并具有相同的安装条件。但在进行低温试验时，则没有必要区分单个试验样品和多个试验样品时的情况。
在 GJB 360B—2009《电子及电气元件试验方法》中涉及高温试验的有“高温寿命试验”，其试验目的是用于确定试验样品在高温条件下工作一段时间后，高温对试验样品的电气和机械性能的影响，从而对试验样品的质量做出评定。在 GJB 128A—1997《半导体分立器件试验方法》中涉及高温试验的有“高温寿命（非工作）”和“高温寿命（非工作）（抽样方案）”两种试验，前者的试验的目的是用于确定器件在承受规定的高温条件下是否符合规定的失效率，后者的试验目的是用于确定器件在承受规定的条件下是否符合规定的抽样方案。电子元器件在高温环境中，其冷却条件恶化，散热困难，将使器件的电参数发生明显变化或绝缘性能下降。例如，在高温条件下，存在于半导体器件芯片表面及管壳内的杂质加速反应，促使沾污严重的产品加速退化。此外，高温条件对芯片的体内缺陷、硅氧化层和铝膜中的缺陷以及不良的装片、键合工艺等也有一定的检验效果。GJB 150《设备环境试验条件》是设备环境试验标准，高低温交变试验箱，它规定了统一的环境试验条件或等级，用以评价设备适应自然环境和诱发环境的能力，高低温交变试验箱价格，适用于设备研制、生产和交付各阶段，是制定有关设备标准和技术文件的基础和选用依据。
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