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关 键 词：三防试验标准
行 业：商务服务 认证服务
发布时间：2022-01-13
汽车IC的市场相较于资通讯科技(ICT)产业的*大差异为市场较为封闭，且前期的开发及验证期可能长达3年，对闽台、中国大陆IC业者已习惯即时上市(Time to Market)的运作模式相悖，价值理念也不尽相同，本文将说明AEC-Q100的IC验证规范并解析晶片商如何满足车厂/模组厂客户的需求，探讨焦点将放在2014年9月新改版规范AEC-Q100 H版的要求进行解读。
目前汽车产业中针对于零件及品质系统标准的就是AEC(汽车电子)，针对于主动零件所设计出的标准为[AEC-Q100]，针对于被动元件设计为[AEC-Q200]，其规范了被动零件所必须达成的产品品质与可靠度。
[AEC-Q200]需要美国汽车联合会*的测试机构测试，提出测试报告和发出测试证书。中国企业尚未***。当然客户*或是同意的第三方测试机构，也是被认可的。
AEC-Q200认证是什么？
AEC-Q200是针对汽车上应用的被动元器件的产品标准。
AEC-Q200:stress test qualification for passive components--被动元件汽车级品质认证;
汽车电子的过电压保护存在*为严苛的电路条件，因此一般要求制造商通过ISO/TS16949的质量体系认证，相关的分立器件要求通过AECQ101认证，被动元件要求通过AECQ200认证，是非常严苛的认证规范。一般来说12V的汽车电子系统使用5-6KW28V的TVS(瞬态抑制二*管)，24V的汽车电子系统使用36V的TVS即可。
应力测试失效后的定义：
测试失效定义为器件不符合用户个别的器件规格，应力测试后的测试标准规范，或是供应商的数据表。任何由于环境测试导致的外部物理破坏的器件也要被认为是失效的器件。如果失效的原因被厂商和用户认为是非正确运转、静电放电或一些其他与测试条件不相关的原因，失效就算不上，但作为数据提交的一部份上报。供应商必须描述每个应力测试的参数失效标准作为向用户提交认证数据的一部分以批准。每种器件类型建议的参数清单应包含在每种器件类型测试表格的后面。
电子元器件失效分析项目：
①形貌分析技术：体视显微镜、金相显微镜、X射线、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。
②成分检测技术：X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱
③电分析技术：I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。
④开封制样技术：化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片。
⑤缺陷定位技术：液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH。
我实验室元器件失效分析设备能力：
电性测试：LCR阻抗分析仪、高阻计、耐压测试仪、ESD测试仪、探针台、半导体参数分析仪、**图示仪、可编程电源、电子负载、示波器、频谱分析仪、数字/模拟集成电路测试机台、电磁继电器测试系统。
汽车元器件失效分析项目：
①形貌分析技术：体视显微镜、金相显微镜、X射线、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。
②成分检测技术：X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱。
③电分析技术：I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。
④开封制样技术：化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片。
⑤缺陷定位技术：液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH。
汽车电子设备EMC测试
RE辐射扰；CE传导扰；BCI大电流注入；
RI电波暗室法辐射抗扰度?RI瞬态传导扰；
瞬态传导抗扰度；静电放电抗扰度ESD；
脉冲波测试；高电压注入抗扰度测试；
脉冲抗扰度测试；音频磁场辐射抗扰度测试；
手持式收发机抗扰度测试；脉冲波抗扰度测试；
高周波抗扰度测试；低周波测试；磁场扰测试；
宽带辐射抗扰度测试；辐射天线靠近抗扰度；
移动手机天线靠近测试；汽车电子暗室有效性；
屏蔽室屏蔽效能；暗室电压驻波比；E/e-mark认证；
制定相应验证步骤方能打入车厂供应链
消费性产品的产品功能设计，一般IC设计业者早已驾轻就熟，而这一两年，随着汽车市场逐步走向车联网、电动车领域，需要更多驾驶资讯整合系统，也让IC设计业者找到进入市场的敲门砖。然而，消费性电子产品而言，产品寿命设计约1～3年为汰换周期，但车用电子则以10年起跳，上看15年寿命期。如何寻找有经验的实验室，协助客户了解车规，制定相对应的AEC-Q100验证步骤与手法，顺利进入车厂供应链，是为重要的事。
