AECQ认证-汽车材料及汽车零部件测试-电池包振动试验
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关 键 词：汽车材料及汽车零部件测试
行 业：商务服务 认证服务
发布时间：2021-12-27
汽车IC的市场相较于资通讯科技(ICT)产业的*大差异为市场较为封闭，且前期的开发及验证期可能长达3年，对闽台、中国大陆IC业者已习惯即时上市(Time to Market)的运作模式相悖，价值理念也不尽相同，本文将说明AEC-Q100的IC验证规范并解析晶片商如何满足车厂/模组厂客户的需求，探讨焦点将放在2014年9月新改版规范AEC-Q100 H版的要求进行解读。
生产要求：所有认器件都应在制造场所加工处理，有助于量产时零件的传输；
3）测试样品的再利用：已经用来做非破坏性认证测试的器件可以用来做其他认证测试，而做过破坏性认证测试的器件则除了工程分析外不能再使用；
4）样品数量要求：用于认证测试的样品数量与（或）提交的通用数据必须与表1中*的小样品数量和接受标准相一致。如果通用数据不能满足这些要求，就要进行器件认证测试。当对大量的器件进行应力测试时，禁止在可靠性测试中对产品使用夹具；
5)预前应力测试和应力测试后要求：除非适用的测试的附加要求中有*，预前应力测试和应力测试后只在标称温度（室温）下进行。在*高等级环境应用的认证，温度值必须设有差情况和应用的设计产品寿命，即每个测试中用至少一个批次的通用数据和器件数据来设置温度等级*端。例如，如果某供应商设计一种器件，有意设置在工作温度等级3环境（-40℃到+80℃），那么终端测试温度*端仅需将其作为限定，供适用的应力测试要求*工作温度*端下的电气测试。针对*高工作温度等级环境（等级1的-40℃到+125℃）应用中的认证，要测试至少一个批次能用到附加终端测试温度*端的器件。所有的终端测试条件必须包括了给定产品系列的所有规格。
应力测试失效后的定义：
测试失效定义为器件不符合用户个别的器件规格，应力测试后的测试标准规范，或是供应商的数据表。任何由于环境测试导致的外部物理破坏的器件也要被认为是失效的器件。如果失效的原因被厂商和用户认为是非正确运转、静电放电或一些其他与测试条件不相关的原因，失效就算不上，但作为数据提交的一部份上报。供应商必须描述每个应力测试的参数失效标准作为向用户提交认证数据的一部分以批准。每种器件类型建议的参数清单应包含在每种器件类型测试表格的后面。
电子元器件失效分析项目：
①形貌分析技术：体视显微镜、金相显微镜、X射线、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。
②成分检测技术：X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱
③电分析技术：I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。
④开封制样技术：化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片。
⑤缺陷定位技术：液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH。
我实验室元器件失效分析设备能力：
电性测试：LCR阻抗分析仪、高阻计、耐压测试仪、ESD测试仪、探针台、半导体参数分析仪、**图示仪、可编程电源、电子负载、示波器、频谱分析仪、数字/模拟集成电路测试机台、电磁继电器测试系统。
广电计量可以做NVH测试,振动噪音测试,常规振动测试,常规噪音测试,模态测试,异响测试,声品质测试,应力变测试,路谱采集,声源定位测试,噪声试验(疲劳),模态计算,谐响应计算,声辐射计算,吸隔声仿真,响应谱分析,吸隔振设计,优化设计,TPA分析
广州广电计量检测股份有限公司(简称:广电计量,代码:002967)始建于1964年,是原电子602计量站,经过50余年的发展,现已成为一家全国化、综合性的国有第三方计量检测机构,专注于为客户提供计量、检测、认证以及技术咨询与培训等*技术服务,在计量校准、可靠性与环境试验、电磁兼容检测等多个领域的技术能力及业务规模处于国内水平.
广电计是由广州无线电集团的内部校准实验室改制发展而来,始建于1964年,90年代以前主要为企业内部主业配套服务.为了*好地拥抱市场、实现发展,2002年5月注册成立公司,**转向市场开展-化服务.十多年来,广电计量不断改革**,走出来一条**发展之路,公司的经营状况发生了翻天覆地的变化,逐步成长为计量检测行业的**,一家国有控股的第三方计量检测机构.
广电计量建有技术研究院,在新能源汽车、轨道交通、无线通信等领域,截止2019年9月:
ü主持编写30多项**和地方计量测试标准及规程;
ü承担50多项国家、省部级等**科研项目;
ü获得授权247项,另**软件著作权119项.
汽车元器件失效分析项目：
①形貌分析技术：体视显微镜、金相显微镜、X射线、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。
②成分检测技术：X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱。
③电分析技术：I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。
④开封制样技术：化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片。
⑤缺陷定位技术：液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH。
广电计量可靠性与环境试验中心具备环境与可靠性试验、六性设计与分析、元器件筛选与失效分析、仿真设计与分析、材料分析与工艺质量评价、定寿延寿分析等服务能力，可为系统、整机、部件等各类产品提供从研发到生产的全过程技术解决方案。全国建有18个可靠性与环境试验实验室实验室。
