元器件一筛测试-AEC-Q101-电子元器件综合标准汇总通用
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关 键 词：元器件一筛测试
行 业：商务服务 认证服务
发布时间：2021-11-23
广电计量可按GJB1032-90、GJB451-90、MIL-STD-721C-81、MIL-STD-785B-80等开展产品研制生产及使用过程中的产品环境应力筛选试验。根据条件是否有必要来确定常规筛选或是定量筛选，根据不同阶段和产品的特征制订筛选方案。可在元件、器件、连接器等产品或整机系统中进行，根据要求不同可以开展不同的应力筛选试验。
可靠性试验技术
可靠性试验为发现产品在设计、材料和工艺方面的各种缺陷；为改善产品的战备完好性、提高任务成功率、减少维修**费用提供信息；确认是否符合规定的可靠性定量要求。广电计量可按GJB 899A-2009装备可靠性鉴定和验收试验、GJB 1407-2009装备可靠性增长试验等标准进行可靠性鉴定试验、可靠性验收试验、可靠性增长试验。可配套综合环境试验设备（温度+湿度+振动+电应力）、HALT、HASS箱等按产品的使用环境设计及开展可靠性试验和可靠性强化试验等，负载：3000kg、加速度：100g；温度范围：-70℃到+150℃，湿度范围为 20%-98%RH，电应力为：0-450V AC,0-100V DC，在全国有50多套三综合试验系统，其中有多套20吨+22立方综合箱，可开展大型系统产品的可靠性试验。
广电计量的可靠性分析与评价技术包括可靠性分析技术、环境应力筛选试验技术、可靠性试验、装备可靠性及寿命评估技术等。
1、可靠性分析技术
可靠性分析技术是产品可靠性设计的重要技术手段，通过可靠性分析了解产品设计方案存在的问题和风险，并通过设计改进将潜在的失效原因消灭在设计阶段，达到设计预防的目的。可靠性分析技术主要包括故障模式、影响机危害性分析（FMECA分析）、故障树分析（FTA分析）、可靠性预计、可靠性建模等内容。
2、环境应力筛选技术
环境应力筛选是一种对产品进行全数检验的非破坏性试验。通过向产品施加合理的环境应力和电应力，将其内部的潜在缺陷加速变成故障，以便发现并排除。
环境应力筛选是装备研制生产的一种工艺手段，筛选效果取决于施加的环境应力、电应力水平和检测仪表的能力。施加应力的大小决定了能否将潜在的缺陷在预定时间内加速变为故障；检测能力的大小决定了能否将已被应力加速变成故障的潜在缺陷找出来，以便加以排除。因此，环境应力筛选又可看作是产品质量控制检查和测试过程的延伸。
为发现和排除不良零件、元器件、工艺缺陷和防止出现早期失效，在环境应力下所做的一系列试验。
为暴露产品的薄弱部分及质量缺陷，在环境应力下所做的一系列试验。
在环境应力作用下的一系列试验，目的是暴露薄弱部件及工艺缺陷，以便纠正。
主要依据的标准有：
GJB1032-90
GJB451-90
MIL-STD-721C-81
MIL-STD-785B-80
元器件二次筛选筛选项目
性质分类：
（1）检查筛选：显微镜检查、红外线非破坏检查、X射线非破坏性检查。
（2）密封性筛选：液浸检漏、氦质谱检漏、放射性示踪检漏、湿度试验。
（3）环境应力筛选：振动、冲击、离心加速度、温度冲击、温度存储、综合应力。
（4）寿命筛选：功率老化、反偏老化筛选。
生产过程分类：
（1）生产线工艺筛选（2）成品筛选（3）装调筛选（即用模拟 整机使用状态
筛选方法分类：
（1）分布截尾筛选：对元器件参数性能的分选；
（2）应力强度筛选：对元器件施加一定强度的应力后进行测量分选；
（3）老炼筛选：在规定时间内对元器件施加各种应力后进行测试筛选；
（4）线性鉴别筛选：类似老炼筛选，但要应用数理统计技术进行判别；
（5）精密筛选：在接近元器件使用条件下进行长期老炼并多次地测量参数变化量进行挑选和预测
外观检查：参考： GJB 128A-1997 方法2071、 GJB 548B - 2005方法2009.1等
电测试：常温测试、低温测试、高温测试依据：GB、GJB、元器件规格书电测试设备，包含电参数测试和功能测试
环境应力检测：扫频/随机振动、低温/高温存储、温度循环/温度冲击、恒定加速度或跌落、粒子碰撞噪声检测（PIND）
寿命/老化/老炼：老炼前/后电测试反偏老炼，功率老炼等老炼箱、老炼板
密封：细检漏、粗检漏
扫描声学显微镜检查：高可靠性要求
X射线照相：参考：GJB 360A-1996 方法209、 GJB 128A-1997 方法2076、 GJB 548B-2005方法2012.1等
元器件检测室拥有集成电路测试仪、分立器件测试仪、RLC测试仪、电磁继电器测试仪、运放测试仪、DC/DC模块测试仪、颗粒碰撞噪声检测仪、温度冲击箱、离心机、多功能综合老化系统、集成电路高温动态老化系统、电容器高温老化台、DC/DC模块老化系统、高温反偏试验箱、高低温试验箱、冲氦充氮氟油平台、氦质谱检漏仪等国内测试设备。具备大、中、小规模集成电路（TTL、CMOS、GAL、ACT、通用运放、电压调整器、非线性电路、A/D、D/A、V/F、F/V、驱动器、时基、单片CPU、MP接口、RAM、EPROM、锁相环等器件），分立器件（开关、整流、变容、稳压、稳流、光电、场效应、闸流、可控硅、光电耦合器等分立器件）、元件（电阻、电位器、电阻网络、电感、电容器、线圈、继电器等）测试能力，可检测的元器件品种达5000种以上。
筛选设备：
电测试主要设备能力：阻抗分析仪，高阻计，耐压测试仪，半导体参数测试系统，高精度图示仪，网络分析仪，信号发生器，频谱分析仪，数字集成电路测试系统，模拟集成电路测试系统，继电器测试系统，LCR、电阻计等，电源模块测试系统
