电连接器|济南电子元器件筛选测试第三方检测机构
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行 业：LED LED发光器件 LED发光管
发布时间：2021-10-12
广电计量打造了一支技术水平和服务意识俱佳的服务队伍，现有员工4000多人，其中包括各领域和技术带头人50多人，博士后、博士33人，硕士近400人。
元器件效能曲线：电子元器件的效能曲线，即浴盆曲线，反映了元器件在使用中的失效规律。一般在元器件刚投入使用时，会因元器件制造过程中原材料、设备、工艺等缺陷导致失效率较高。元器件使用一段时间后，元器件的失效率较低，即偶然失效期。过了正常使用期后，元器件进入老化失效期，即损耗失效期，该元器件时间工作寿命结束在老化失效期，元器件的失效率增高。
检查外观质量：这是简单可行的检验方法，能发现一些电子元器件的早期缺陷和采购过程中的损坏。在对电子元器件识别与检测进行时应按照如下操作进行：要检查元器件的型号、规格、厂商、产地必须与设计要求相符合，外包装完好。检查元器件的外观必须完好，表面没有无凹陷、划伤、裂纹等缺陷，外部如有涂层的元器件必须无脱落和擦伤。元器件的电引线要无压折和弯曲，镀层要完好光洁，无氧化锈蚀。元器件上的型号、规格标记要清晰、完整，色标位置、颜色要满足标准，应认真检查集成电路上的字符。机械结构的元器件尺寸要合格、螺纹灵活、转动手感合适。开关类元件操作灵活，手感良好；接插件松紧要适宜，接触良好。各种电子产品中的元器件均有自身特点，检查时要按各元器件的具体要求确定检查内容。
在电子元器件的筛选中，要注意质量控制，统筹兼顾，科学选择，简化设计，合理运用元器件的性能参数，发挥电子元器件的功能作用。选择元器件做到统筹兼顾，按照有利条件进行合理选择，简化电路设计提高可靠性，降额使用提高可靠性。以下是云汉芯城小编整理的关于电子元器件如何检测和筛选，希望对你有所帮助。
元器件二次筛选程序的制定依据：
1、原则上应根据元器件现场使用或可靠性试验统计，对失效产品进行失效分析，搞清各种元 器件的失效模式和失效机理，针对元器件内部存在的缺陷，采取不同的应力，使有缺陷的 能提前暴露，将其剔除，而对良品则不受到任何损伤。对制定的各项筛选应力应通过大量 的试验验证，并对失效样品进行失效分析，经过充分论证来确定。
2、 根据现行标准，比如以GJ4、GJB128、GJB360等标准为基础 考虑整机系统对元器件的可靠性要求 3、考虑元器件使用环境条件、经费、研制周期 4、 筛选规定不是永远不变的，要根据元器件制造技术的提高，试验设备的发展，对元器件可 靠性要求的不同进行更改
元器件二次筛选筛选项目
性质分类：
（1）检查筛选：显微镜检查、红外线非破坏检查、X射线非破坏性检查。
（2）密封性筛选：液浸检漏、氦质谱检漏、放射性示踪检漏、湿度试验。
（3）环境应力筛选：振动、冲击、离心加速度、温度冲击、温度存储、综合应力。
（4）寿命筛选：功率老化、反偏老化筛选。
生产过程分类：
（1）生产线工艺筛选
（2）成品筛选
（3）装调筛选（即用模拟 整机使用状态
筛选方法分类：
（1）分布截尾筛选：对元器件参数性能的分选；
（2）应力强度筛选：对元器件施加一定强度的应力后进行测量分选；
（3）老炼筛选：在规定时间内对元器件施加各种应力后进行测试筛选；
（4）线性鉴别筛选：类似老炼筛选，但要应用数理统计技术进行判别；
（5）精密筛选：在接近元器件使用条件下进行长期老炼并多次地测量参数变化量进行挑选和预测
外观检查：参考： GJB 128A-1997 方法2071、 GJB 548B - 2005方法2009.1等
电测试：常温测试、低温测试、高温测试 依据：GB、GJB、元器件规格书 电测试设备，包含电参数测试和功能测试
环境应力检测：扫频/随机振动、低温/高温存储、温度循环/温度冲击、恒定加 速度或跌落、粒子碰撞噪声检测（PIND）
寿命/老化/老炼 ：老炼前/后电测试 反偏老炼，功率老炼等 老炼箱、老炼板
密封：细检漏、粗检漏
扫描声学显微镜 检查：高可靠性要求
X射线照相：参考：GJB 360A-1996 方法209、 GJB 128A-1997 方法2076、 GJB 548B-2005方法2012.1等
筛选设备：
电测试主要设备能力： 阻抗分析仪，高阻计 ，耐压测试仪 ，半导体参数测试系统 ，高精度图示仪 ，网络分析仪 ，信号发生器 ，频谱分析仪 ，数字集成电路测试系统 ，模拟集成电路测试系统 ，继电器测试系统 ，LCR、电阻计等 ，电源模块测试系统
电测试筛选能力覆盖： 元件（阻容感、磁珠等）， 分立器件 ，数字/模拟集成电路 ，线缆/连接器，继电器 ，晶振/晶谐 ，滤波器 ，电源模块
环境、应力筛选主要设备能力：
高低温试验箱：热循环试验，振动台-振动试验
恒定加速度试验台：恒定加速度试验
可编程电源：电压、功率老炼试验
电子负载：电流、功率老炼
颗粒碰撞噪声测试仪
老炼试验的主要设备：
单片集成电路高温动态老炼系统
混合集成电路高温动态老炼系统
电源模块高温老炼检测系统
晶体振荡器高温老化测试系统
分立器件综合老炼检测系统
分立器件间歇寿命试验系统
电容器高温老炼检测系统
大功率晶体管老炼检测系统
继电器低电平寿命筛选系统
继电器中电平寿命筛选系统
继电器高电平寿命筛选系统
寿命筛选能力覆盖： 电容器 分立器件（二管、晶体管等） 数字/模拟集成电路继电器 晶振/晶谐 滤波器 电源模块
目检、外观检查主要设备： 光学显微镜 ， 金相显微镜
密封检测主要设备： 氦质谱检漏仪 ， 碳氟化合物粗检漏仪
X射线检测设备： X-RAY透射系统
声扫检测设备： 超声扫描显微镜
广州广电计量可以做AEC-Q-100认证报告,AEC-Q-101认证报告,AEC-Q-102认证报告, AEC-Q-104认证报告，AEC-Q-200认证报告，元器件筛选，破坏性物理分析，NVH，LV324认证，AQG324认证。
