直读火花光谱仪参数 钢研纳克750光谱仪
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关 键 词：直读火花光谱仪参数
行 业：仪器仪表 分析仪器 元素分析仪器
发布时间：2021-09-16
直读光谱仪的分辨率受到入缝宽度、出缝宽度、光栅刻线数、光谱仪的焦距、光线入射角、光谱级次等因素的综合影响,其中全谱和多道直读光谱仪的主要区别在于出入缝宽度、光栅刻线数和焦距的不同.全谱型直读光谱仪虽然焦距比较小,但其采用了更窄的入缝和更高刻线数的光栅,因此其光学分辨率与大型多道光谱仪相当;而且大型多道直读光谱仪采用PMT作为检测器,必须配合出缝来选择光谱,受制于光谱强度、出缝的加工和光学调试难度等因素的影响,出缝宽度通常在50μm左右,影响了多道光谱仪的分辨能力.而全谱型直读光谱仪采用CCD作为检测器,其像素宽度仅为10μm左右,大大提高了光谱的分辨能力.
Labspark 750T技术特点
原位单次放电采集的专利技术（SDA）有效提高分析精度
单板式透镜架，擦拭时大大降低对光室的污染
基于 ARM9 的仪器状态实时系统
固态吸附阱，防止油气对光室的污染，提高长期运行稳定性
绿光背景灯，加快响应速度，提高短期分析精度
·铜火花台底座，提高散热性及坚固性。
·激发能量、频率连续可调全数字固态光源，适应各种不同材料。
可变延时积分技术，大大降低背景干扰。
高精度光电倍增管负高压立供电连续可调技术，调整更，可程序调整，提高动态范围。
网口采集，通用性更强。
真空光室由材质制作：极低的热膨胀系数，受温度波动影响小。
全新光室结构：可轻松检测 Li、Na、K 等长波元素以及极短波长元素或干扰严重的元素，如 N、P、S、B、Sb 等。
内置疲劳背景灯：有效降低光电倍增管暗电流对信号
收集的影响，提高信噪比，延长光电倍增管的使用寿命。
自动描迹：全新设计的自动描迹系统，快速精准，大大提高了仪器分析效率并降低了操作难度，提供自动与手动描迹切换功能。
全新设计的共轴火花台：采用优化的内部气路，大大减少了氩气的消耗量，减少了火花台内部的残留金属粉尘并且提高了仪器分析数据时的稳定性。
在实际工作中，由于试样和标准样品的冶金过程和某些物理状态的差异，常常使工作曲线发生变化，通常标准样品多为锻造和轧制状态，而日常分析为浇铸状态。为了避免试样因冶金状态变化给分析结果带影响，常常应使用一个与分析试样冶金状态和物理状态都一样的控样，来控制分析结果，控样的元素含量应位于工作曲线含量范围内，并与分析试样的含量越接近越好。同时，控制样品的元素含量应当准确可靠，成份分布均匀，外观无气孔、砂眼、裂纹等物理缺陷。
Labspark 750T 精密直读火花光谱仪技术参数
Labspark 750T 技术优势
激发能量、频率连续可调全数字固态光源，适应各种不同材料。
特的恒温式火花台设计，环状氩气流方式，保证连续激发状态下仪器的稳定性，避免使用水冷带来的不利影响。
安全防护设备阻止不安全激发。
铜基座火花台，火花台易于拆卸，便于清洁。
带有特配件，易于检测多种形状的分析对象（饼状、棒状、线状）。
一体式透镜隔离阀，可防止因日常维护导致的光室污染影响强度下降，透镜易于更换。
放电室设计特，保证放电在条件下进行。
激发电极为钨电极。
帕邢 - 龙格架发，高发光全息光栅。
光栅焦距 750mm，刻线为 2400 条 /mm，
谱线范围：120-800nm。
色散率：一级色散率：0.55nm/mm， 二级色散率：0.275nm/mm。
分辨率：优于 0.01nm。
整体出射狭缝调试方便、快捷、便于用户增加更改通道，节约成本。
光栅、光电倍增管等核心部件全部进口。
真空度由真空泵和真空控制设备控制。
铸铁光室，热膨胀系数低，保证真空度的要求。
采用纳克公司的金属原位分析仪的核心关键技术 -- 单次放电采集解析技术（Single Discharge Analysis，SDA）。
世界首创的多通道同步描迹提高仪器稳定性。
延时积分技术，国内空白、，不同的通道采用不同的积分起始时间。
内部恒温系统，不同的部位采用不同的恒温条件，大大减少了外部环境变化对仪器的影响（控制精度 ±0.1℃）
连续可调光源，对不同的材质可以匹配不同的光源实现的分析结果。
模块化的电路设计，维修方便快捷，为远程诊断做好了准备。
软件可调立高精度负高压模块，负高压精度＜ 0.05%。
负高压可由分析程序控制，调高分析程序的分析精度，扩展元素的分析范围。
实时各通道负高压、 光室温度、火花台温度、真空度等重要参数，确保仪器长时间稳定运行。
各光电倍增管负高压立 供电，消除相互干扰，运行更可靠。
根据分析需要，可程序调整，拓宽反分析范围。
包括不同基体不同曲线的计算，全中文分析软件，方便用户操作，第三元素干扰校正，提高分析准确度。
