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低本底大面积 α 屏栅电离室
2.1 屏栅电离室的结构和主要参数
为防止样品制备过程中丢失核素，也为省去通常比较费时的化学分离，把待测介质薄薄地铺成大面积薄样是很理想的 α 能谱分析方法。
2.2 大面积源样品的制备
为利用屏栅电离室进行 α 能谱分析，制备出符合要求的大面积均匀薄源是十分关键的。假若样品本身不够薄 和不均匀，那探测器本身的能量分辨本领再高也是没有用的，低本底，因为样品自吸收会产生很大的 α 能谱的“尾巴 ”，从而使对 α 能谱的分辨本领遭到严重破坏。
低本底介绍
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性能稳定、设计紧凑，使用操作方便。以大面积薄窗流气式正比计数管为探测器（?60mm），用专门设计的屏蔽计数管与测量计数管进行反符合，以降低周围环境性对测量的干扰。用精选“老铅”作成厚铅室屏蔽外来辐射。因此，该仪器检测灵敏度高、本底低。能量响应好，对14C低能β射线的探测效率≥40%。优于半导体、闪烁体为探头的同类检测仪。采用计算机数控操作，不外设开关旋钮。通过程序控制可以自行检测计数管的坪特性，设定计数管的工作点，自行检测仪器本底计数率，并在对样品的检测时自行扣除本底计数，低本底哪家好，对结果进行修正。结合使用标准源，可以自行校准仪器的探测效率。自动处理检测结果。可以直接得到被测样品的性比活度Bq/L或Bq/Kg等。
低本底测量仪主要技术指标
主要技术指标
仪器对于90Sr-90Yβ源（活性区Φ20mm）的2π探测效率比≥50％时，低本底公司， 本底≤0.15cm-2min-1；
仪器对于241Amα源（活性区Φ25mm）的2π探测效率比≥80％时， 本底≤0.005cm-2min-1；
α／β交叉性能：α进入β道的计数比＜3％（对241Am）， β进入α道的计数比＜0.5％（对于90Sr-90Y）；
长期稳定性
重复性：仪器连续通电8小时，探测效率变化＜±10％；
本底稳定性：在8小时的测量时间内，本底计数变化应在(Nb±3σ)的范围内，其中Nb为本底计数的平均值，σ为本底计数的标准误差。
仪器灵敏度：α≥5×10-3Bq；β≥1×10-2Bq
耐压绝缘度＞1500V；
绝缘电阻≥2MΩ；
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