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μ Phase高精度干涉仪用于测量高精度要求的光学零件,材料包括玻璃、塑料、金属、陶瓷等,被国家计量院,以及各大天文、光电研究所应用于精密光学检测,测量精度及稳定性已得到研究机构的广泛肯定。 应用范围: 可用于测量平面和球面光学零件 可完成各种类型的反射和透射检测 可采用透射法检测双胶合透镜 曲率半径测量 非球面、柱面、轮胎面等面型的测量 大型平面的检测 光学材料的均匀性检测 理想的成盘抛光分块镜面型检测 典型应用 μPhase? SPHERO UP, μPhase? **NO UP,μPhase? Plano Down ? 用于测量不同的平面和球面光学零件 ? 操作直观而简单,适合非专业人士操作 ? 测量范围: μPhase? Plano Down:平面φ≤2 mm 至 150 mm μPhase? **NO UP:平面φ≤2 mm 至 100 mm μPhase? SPHERO UP:球面,曲率半径(凸面)2mm—225mm,直径较大55mm 球面,曲率半径(凹面)-3mm—-570mm ? 结构紧凑,占用空间下,可灵活的与产线结合 μPhase? Vertical ? 适用于厂房、车间、实验室的标准干涉仪检测系统 ? 立式检测,结构紧凑,占地面积小 ? 标配一个沿Z轴方向电动平移的平台,可选配*二个平台 ? 倾斜及X/Y平移精调 ? 可完成各种类型的反射与透射检测 ? 可采用透射法检测双胶合透镜 ? 凹面与凸面球面镜的检测范围:标准曲率半径范围:1mm-225mm,直径较大55mm(采用50mm物镜μLens **NO 50) ? 集成半径测量单元 ? 可选CGH,用于测量非球面、柱面、轮胎面等 ? Z轴方向设置导轨电机,电动升降 ? 曲率半径实现一键式自动测量 μPhase? UNIVERSAL 100 ? 用于测量平面和球面的4英寸干涉检测系统 ? 球面测量范围:凹面曲率半径较大-3000mm(提供相应导轨) ? 平面测量范围:较大98mm ? 半径测量系统集成导轨和光栅尺 ? 适合长焦光学零件和系统的检测 ? 与市场上通用的4英寸标准球面物镜相兼容 ? 可选旋转对称非球面的检测配件,检测范围10mm-80mm,CGH检测轮胎面、柱面等 μPhase? Plano 300 ? 理想的大型平面的检测系统,光学材料的均匀性检测系统 ? 理想的成盘抛光分块镜面形检测系统 ? 测量范围60-300mm ? 立式检测系统,其它检测方式根据要求可订制 ? 具有重型光学元件的支承、调整等操作功能。 技术规格: 测量原理 泰曼格林型相移式干涉仪,可转成菲索型 测量能力 光学反射面的面形、光学零件或系统的透过波前 激光波长 标配632.8nm,335nm-1064nm间波长可选 PV重复精度 λ/400(λ=632.8nm) RMS重复精度 λ/6500(λ=632.8nm) 测量不确定度 λ/20(λ=632.8nm) 相机分辨率 μPhase? 500:500×500像素 μPhase? 1000:1000×1000像素 数字化位 8位 激光器类型 稳频氦氖激光器 激光器防护等级 3A