价格：12800起
上海微图仪器科技发展有限公司
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KEL-XS-402T现代的科研和工业生产越来越需要了解各种材料在不同的条件下热性能的确切情况，特别对含有结晶体的材料进行热性能变化的研究更为重要。我公司的偏光熔点测定分析系统，就是根据这一需要开发研制的。 计算机实时控制，直观地对程序控温仪进行在线修改； 经典公认的测试方法：全自动快速运行温度程序。温度程序段由用户自行设定，较高可设30段，并循环操作； 同一屏幕显示材料热性能状况的动态显微图像和对应的温度值，具有显微图像和对应温度值的动态保存功能； 配有专业彩色CCD、专业图像转换卡和高性能图像工作站、专业材料图像分析合成运算软件。可进行图像采集、图像增强处理、图像目标识别、处理、及过滤功能、图像测量分析、数理统计分析、图像文件输出及扩展功能等。 偏光显微镜用XS—402P型，成像清晰，偏光效果明显，配有20X长焦距物镜。 可用10X、20X物镜观察300℃以下的物体热能变化； 可作单偏光、正交偏光及锥光观察，放大倍率40X—630X。 通过数码照相或CCD观察可达到1600倍。