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发布时间：2017-11-15
超声波探伤中影响缺陷定量的因素之仪器及探头性能（第一篇）仪器和探头性能的优劣，对缺陷定量精度影响很大。仪器的垂直线性、衰减器精度、频率、探头形式、晶片尺寸、折射角大小等都直接影响回波高度。因此，在探伤时，除了要选择垂直线性好、衰减器精度高的仪器外，还要注意频率、探头形式、晶片尺寸和折射角的选择。 (1)频率的影响：由此可知，超声波频率f对于大平底与平底孔回波高度的分贝差△Bf，有直接影响。f增加，△Bf减少.f减少。△Bf增加。因此在实际探伤中，频率f偏差不仅影响利用底波调节灵敏度，而且影响用当量计算法对缺陷定量。 (2)衰减器精度和垂直线性的影响：A型脉冲反射式超声波探伤仪是根据相对波高来对缺陷定量的。而相对波高常常用衰减器来度量。因此衰减器精度直接影响缺陷定量，衰减器精度低定量误差大。 当采用面板曲线图对缺陷定量时，仪器的垂直线性好坏将会影响缺陷定量精度。垂直线性差，定量误差大。超声波探伤中影响缺陷定量的因素之仪器及探头性能（第二篇） (1)探头形式和晶片尺寸的影响：不同部位不同方向的缺陷，应采用不同形式的探头。如锻件、钢板中的缺陷大多平行于探测面，宜采用纵波直探头。焊缝中危险性大的缺陷大多垂直于探测面，宜采用横波探头。对于工件表面缺陷，宜采用表面波探头。对于近表面缺陷，宜采用分割式双晶探头。这样定量误差小。 晶片尺寸影响近场区长度和波束指向性，因此对定量也有一定的影响。 (2)探头K值的影响：超声波倾斜入射时。声压往复透射率与入射角有关。对于横波K值斜探头而言，不同K值的探头的灵敏度不同。因此探头K值的偏差也会影响缺陷定量。特别是横波检测平板对接焊缝根部未焊透等缺陷时.不同K值探头探测同一根部缺陷，其回波高相差较大，当 K=0.7～1.5(βs=35°～55°)时，回波较高，当K=1.5～2.0(βs=55°～63°)时，回波很低，容易引起漏检。 福州探伤仪厂家电话-雅视特仪器设备-杭州探伤仪由杭州雅视特仪器设备有限公司()提供。
