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联系人:魏兵
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关 键 词:BGA测试治具
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发布时间:2008-07-12
特点 手动翻盖式结构,操作方便; 上盖BGA压板采用旋压式结构,下压平稳压力均匀,**BGA不移位测试稳定; 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触**,而不会损坏锡球; **的定位槽或导向孔,**BGA定位**,测试**; BGA芯片有无锡珠均可测试; 采用进口**BGA双头测试针和防静电材料制作; 采用测试针和PCB联合,接触**,可重复使用,体积小,使用寿命长; 测试针易于更换,维护方便; 带COM口或USB口的BGA夹具,可在线读写资料; 较高频率可达3G 较小测试pitch可达0.4mm.