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产品数量：10 个
包装说明：
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发布时间：2015-01-07
半导体BOWMAN X射线荧光电镀膜厚测试仪检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费. 典型的应用范围如下： 单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 半导体BOWMAN X射线荧光电镀膜厚测试仪是通过.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素。 博曼线路板电镀镀层膜厚测试仪应用于PCB.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意，为客户创造较大的价值是金东霖追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图 美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素，BOWMAN膜厚测试仪高分辨硅-PIN-接收器，配合快速信号处理系统能达到较高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层、二元合金层、三元合金层、双镀层等 ，应用于端子，连接器，细小的金线，在五金，汽车配件．线路板．卫浴，等行业