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深圳市金东霖科技有限公司
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美国x射线镀铜镍金膜厚仪采用真正的基本参数原理(FP)来测量厚度。 美国x射线镀铜镍金膜厚仪电动的X/Y 桌可以在测量门打开时变速移动X/Y 桌出来给操作员放置样品及关闭测量门时移动X/Y 桌变速返回到测量位置。 高解像彩色摄影机配合强大的放大倍数功能使样品的对位十分容易及在测量中也可以监视测量的位置。如型号配备了可编测量位置的仪器更有雷射对位装置来更快速及准确对准样品的位置测量。 开槽式的测量室设计,这可使大块及平坦的样品,比测量室还大的,例如:电路板,也可以测量。 博曼膜厚测试仪在整体操作上,在简易操作及强大功能的电脑WinFTM?软件下,所有的测量数据的统计可以十分清楚地表达出来。 符合美国的出口规定 软件是仪器的基本操作.此软件可以同时间测量较多至四层镀层、或是进行多至5元素的合金分析、又或是较多测量两个正离子的药水浓度测量分析。 是另外选购,此软件可以容许 设定测量多至24个需要分析的参数。 博曼膜厚测试仪在不使用标准片做校正的情况下,可以达至一个相当不错的测量结果。 测量的准确度是可以用标准片校正来提高,程式是可以接受多至64个标准片来做校正, 博曼膜厚测试仪标准片校正也可以保证测量可以有追溯性。 联系人:周小姐