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美国镀层镀金膜厚仪是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。高分辨硅 -PIN-探测器，美国镀层镀金膜厚仪配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定. 设备遵循ASTM B568，DIN ENISO 3497国际标准，主要基于核心控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统. bowman膜厚测试仪采用全新数学计算方法,采用最新的FP（Fundamental Parameter）、DCM （Distenco Controlled Measurement）及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算，在加强的软件功能之下，简 化了测量比较复杂镀层的程序，甚至可以在不需要标准片之下，一样精准测量。 bowman膜厚测试仪主要用于镀层或涂层厚度的测量，而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。无数次的专利发明,包括使用DCM自动对焦方法和透明的准值器，操作简单。不用调校. X-射线管的距离也可测量，操作人员只需要调校样品焦距便可以测量。 联系人：周小姐 电话：0755-29371651 传真：0755-29371653 地址：深圳市宝安沙井北环大道鸿安大厦502
