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美国博曼BA-100电镀测厚仪 镀层标准片标样 美国博曼膜厚仪性能,可测量任一测量点,较小可达0.025 x 0.051毫米。能够测量包 含原子序号13至92的典型元素的电镀层,镀层,表膜和液体,较薄的浸液镀层（ 银,金,钯,锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成 份百分含量可同时测定较多5层,15 种元素。 精确度良好于世界,精确到 0.025um (相对与标准片) 数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式,以满足您特定的分析 报告格式要求 ；如在分析报告中插入数据图表,测定位置的图象,CAD文件等 。 统计功能提供数据平均值,误差分析,较大值,较小值,数据变动范围,相 对偏差,UCL(控制上限),LCL(控制下限),CpK图,直方图,X-bar/R图等多种 数据分析模式。 X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品； 膜厚仪操作 WINWIF系统,WIN系统及FIM系统,其较适合用于微电子器件,数据 偶合器,光通讯和数据贮存,半导体,光通讯,微电子,光子学,无源器件和 薄层磁头金属化分析等。 联系人：刘振东先生 0136 4094 8714 Q 如果您有什么问题或要求，请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。奔蓝科技祝您工作愉快！