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探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪) Dektak XT 布鲁克 Dektak XT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供**的重现性,重现性低于5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去40年Dektak技术创新的**峰,更加巩固了其行业良好地位。通过整合其行业良好产品,Dektak XT实现了较高性能。操作简易,从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到*十代Dektak XT台阶仪,能够在微电子,半导体,**高亮度发光二极管(LED)、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。 Dektak XT 技术参数: 1. 台阶高度重复性5Å 2. 单拱(Single-arch)设计大大提高了扫描稳定性 3. 前置敏化器件,降低了噪音对测量的干扰 4. 新的硬件配置使数据采集能力提高了40% 5. 64-bit,Vision64同步数据处理软件,使数据分析速度提高了十倍。 6. 功能**,操作简易 7. 直观的Vision64用户界面操作流程简便易行 8. 针尖自动校准系统让用户更换针尖不再是难事 9. 台阶仪(表面轮廓仪)领域无可撼动的世界良好地位 10. 单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围