供应探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪)

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关 键 词：膜厚仪，台阶仪，探针式轮廓仪

行 业：机床 测量仪器 轮廓仪 

发布时间：2019-02-21

探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪) Dektak XT
布鲁克 Dektak XT 台阶仪（探针式表面轮廓仪）是一项创新性的设计，可以提供**的重现性，重现性低于5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去40年Dektak技术创新的**峰，更加巩固了其行业良好地位。通过整合其行业良好产品，Dektak XT实现了较高性能。操作简易，从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到*十代Dektak XT台阶仪，能够在微电子，半导体，**高亮度发光二极管（LED）、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。

Dektak XT 技术参数：
1.	台阶高度重复性5Å
2.	单拱（Single-arch）设计大大提高了扫描稳定性
3.	前置敏化器件，降低了噪音对测量的干扰
4.	新的硬件配置使数据采集能力提高了40%
5.	64-bit，Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了十倍。
6.	功能**，操作简易
7.	直观的Vision64用户界面操作流程简便易行
8.	针尖自动校准系统让用户更换针尖不再是难事
9.	台阶仪（表面轮廓仪）领域无可撼动的世界良好地位
10.	单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围