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探针，AFM探针，原子力显微镜探针，veeco探针，Bruker探针 探针的工作模式：主要分为 扫描(接触)模式和轻敲模式 探针的结构：悬臂梁+针尖 探针针尖曲率半径Tip Radius：一般为10nm到几十nm。 制作工艺：半导体工艺制作 常见的探针类型： 1. 导电探针（电学）：金刚石镀层针尖，性能比较稳定 2 .压痕探针：金刚石探针针尖（分为套装和非套装的） 3. 氮化硅探针：接触式（分为普通的和锐化的） 4. 磁性探针：应用于MFM，通过在普通tapping和contact模式的探针上镀Co、Fe等铁磁性层制备 5. 电化学探针（STM）: 电学接触式和电学轻敲式 6. FIB大长径比探针：测半导体结构，专为测量深的沟槽（深孔）以及近似铅垂的侧面而设计生产的。 Popular Probes & Applications Application: High resolution topographical imaging of a wide variety of samples. Probe Model: TESP, RTESP, OTESPA , NCHV, VL300 Specifications: 40 N/m, 300 kHz AFM Mode: Tapping Application: High resolution imaging for softer samples (Polymers, biological, and thin films) Probe Model: FESP, RFESP, OLTESPA, FMV, VLFM Specifications: 2.8 N/m, 75 kHz AFM Mode: Tapping or Force Modulation Application: Magnetic and electrical measurements. Probe Model: MESP, SCM-PIT, OSCM-PT, SCM-PIC Specifications: 2.8 N/m, 75 kHz AFM Mode: MFM, EFM, SCM, Conductive AFM / TUNA Application: Liquid Imaging, Force Measurement and pulling, Contact mode imaging in air Probe Model: MSCT, NP-S, OTR4, OBL Specifications: .006-.58 N/m AFM Mode: Contact or Tapping 模式 常用探针型号 接触模式 – ESP – MPP-31100-10 – SNL-10 – DNP-10 – MLCT – MSNL-10 轻敲模式 空气 液体 – MPP-11100-10 (RTESP) – TESP – OTESPA – FESP – SNL-10 – DNP-10 – MLCT – MSNL-10 峰值力轻敲模式 – ScanAsyst-Air – ScanAsyst-Fluid – ScanAsyst-Fluid+ 智能成像模式 – ScanAsyst-Air – ScanAsyst-Fluid – ScanAsyst-Fluid+ – ScanAsyst-Air-HR 轻敲模式& 相位成像模式 – MPP-11100-10 (RTESP) – TESP – OTESPA – FESP 定量纳米力学性能测试模式 – MPP-11120-10 (RTESPA) – MPP-12120-10 – MPP-13120-10 – PDNISP-HS – ScanAsyst-Air 磁力显微镜模式 – MESP – MESP-HM – MESP-LM – MESP-RC 静电力显微镜模式 – SCM-PIT – MESP – MESP-RC – OSCM-PT 峰值力隧道电流显微镜&导电原子力显微镜模式 – SCM-PIC – SCM-PIT – DDESP-FM – PFTUNA 更多探针信息，请咨询铂悦仪器，谢谢！ DNP-10 氮化硅探针 用于接触式或轻敲模式或力的测量。 非套装，适用于BioScope AFM 及 Dimension 系列SPM。 每个基片有4个悬臂，弹性系数为0.06 - 0.58 N/m，共振频率为18-65 KHz 包装数量：10根/盒 针尖参数 几何：各向异性 针尖高度 (h): 2.5 - 8.0μm 正面角(FA): 15 ± 2.5° 背面角(BA): 25 ± 2.5° 侧面角 (SA): 17.5 ± 2.5° 针尖曲率半径(Nom): 20nm 针尖曲率半径(Max): 60nm 针尖缩进 (TSB)(Nom): 4μm 针尖缩进范围 (TSB)(RNG): 0 - 7μm HMX-10 HarmoniX探针 用于纳米材料样品的属性映射，标准样品的硬度范围在10MPa到10GPa之间。 HMX探针更适用于硬而粘的样品表面。弹性系数2 N/m, 共振频率为60 kHz, 铝反射涂层 包装数量：10根/盒 针尖参数 独特的“离轴”设计，适用于Veeco HarmoniX模式，tr/fl=17N/m。 几何：各向异性 针尖高度 (h): 4 - 10μm 正面角(FA): 25 ± 2.5° 背面角(BA): 15 ± 2.5° 侧面角(SA): 22.5 ± 2.5° 针尖曲率半径(Nom): 10nm 针尖曲率半径(Max): 12nm 针尖缩进(TSB)(Nom): 10μm 针尖缩进范围(TSB)(RNG): 5 - 15μm MLCT 氮化硅探针 用于接触式、轻敲式或力的测量，高灵敏度，弹性系数极低。 每个基片有6个悬臂，弹性系数为0.01 - 0.50 N/m 包装数量：10根/盒 针尖参数 几何：各向异性 针尖高度 (h): 2.5 - 8.0μm 正面角 (FA): 15 ± 2.5° 背面角(BA): 25 ± 2.5° 侧面角 (SA): 17.5 ± 2.5° 针尖曲率半径(Nom): 20nm 针尖曲率半径(Max): 60nm 针尖缩进(TSB)(Nom): 4μm 针尖缩进范围(TSB)(RNG): 0 - 7μm
