薄片测厚仪/0.65mm高精薄超声测厚仪

价格：2100起

广州市东儒电子科技有限公司

联系人：陈小姐

电话：18022472052

地址：广州市

产品规格：136（L）×72（W）×20（H）mm 标配

产品数量：1000 个

包装说明：全新

关 键 词：薄膜超声波测厚仪

行 业：焊接切割 无损检测设备 测厚仪 

发布时间：2019-07-12

广州东儒公司专业提供薄膜高精度测厚仪，型号：DR86测厚仪，专业测量薄膜厚度、箔片厚度、薄片等厚度的高精度测定，DR86超声波测厚仪测量范围较薄至：0.65mm，较厚可测量至400mm，可以根据您的测厚范围选择不量程的探头，也可以选择多探头，更可以根据材料粗晶粒及温度高低选择不同的探头..
技术参数：
测量范围：0.65～100mm
测量精度：0.01mm、0.1mm
测量误差：0.5%+0.03mm
材料声速：508～18699m/s
扫描速度：2次/秒～20次/秒
频率带宽：1～10MHz
管材测量下限：（取决于探头） 
Φ15mm×1.0mm(7.5MHz，Φ6mm的探头) 
显示方式：128×64点阵液晶屏
工作电源：双节AA(5号)电池
工作时间：280小时（自动模式）
100小时（背光打开）
外形尺寸：136（L）×72（W）×20（H）mm
重量：176g（含电池）
工作温度：-10~50℃（可测量较高温300℃材料物质，需另选探头）

广州东儒DR86超声波测厚仪是由广州东儒电子厂商研发生产提供的一款用于测量金属，塑料，陶瓷，橡胶，玻璃等具有超声波良导体材料的厚度，可以多种实用测量模式：标准测量模式，较大值测量模式，较小值测量模式，差值测量模式，人性化数据保存模式：可分组保存数据，可选择每组保存数据量，*保存每个测量数据，简化操作；