供应半导体器件膜厚测试仪

价格：20000起

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包装说明：货柜

关 键 词：半层体膜厚仪

行 业：广电 广电测试设备 测试仪 

发布时间：2011-10-28

半导体器件膜厚测试仪能够有效并精确的测量合金属成分，只需短短数秒钟，所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 
二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 
三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。 
双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 
双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。
半导体器件膜厚测试仪的用途：主要应用于小五金的测量（如：小螺丝、手表、眼镜、端子），大面积的样品（如：线路板），亦可测量药水含量，只需要将药水放进别外选购的测量杯便可以进行测量，这样便可以随时随地的监察电镀槽的药水状况如何，有效率地控制电镀生产，测贵金属成分可达到重复性约0.1%。
包装：我们直接送货上门，原厂出口，木制货柜包装，配有电脑显示器及主机等。
半导体器件膜厚测试仪的售后：我们有专业的售后工程师，定期去到访与维护，各地都设有菲希尔服务点，并且我有1年的保修期，及国家三包服务，NIST认证，**服务及支持。
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