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深圳市天创精密仪器有限公司
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探测器配置 高灵敏电制冷Si(Li)探测器技术,仪器免维护和零费用运行,寿命达15年以上（可选用：液氮Si(Li) 探测器） 较高的分辨率： 电制冷Si(Li) 探测器 晶体面积15mm2 分辨率<155ev （可选用： 液 氮Si(Li) 探测器 晶体面积30mm2 分辨率<149ev） **大Si(Li) 晶体,较高的痕量分析的灵敏度,打破lng的检测限壁垒X-光管 50KV,50瓦,**强流端窗X-射线管,具有**强束流。高稳定,寿命可达15年以上 多滤光片技术,8位滤光片可根据分析对象元素,有效探测.可清晰分辨相邻元素 数据采集 全数字脉冲处理器技术,死时间达60%,以及优异的峰背比,较大的提高分析速度及精度 采用多道（32位4096道）脉冲分析器,较大的提高分析精度及其速度 其他 **大样品室,可容纳305mm×389mm×66mm的样品(增高室可选215mm或371mm) 全自动校准,自动监测,自动报警系统,完全计算机控制 镀层和薄膜测量技术, 具有无标样分析测厚技术 方便快捷的运输和移动 高性能,操作简便WinTrace软件 主要特点 分析元素范围 Na－Ｕ 分析元素的浓度范围 ppm—** 整机稳定性连续8小时测RSD<0.25% 高级FP无标样分析软件,无标样条件下误差小于1%。减少对标样的依赖性 ROHS/WEEE检测时间100-120秒 样品类型： 固体,液体,粉末,滤渣,镀层及其他 仪器介绍 荧光能谱仪(EDXRF) 应对ROHS/WEEE检测绿色采购较佳帮手能量色散X-荧光光谱仪(EDXRF)是较新的元素分析仪,是为实验室和工厂制造环境下满足绝大多数分析设计的,其强大的功能和灵活性对于许多元素分析应用是不可缺少的。有了,就不必在为元素的范围、分析性能、样品类型、分析便捷或可靠性担忧了。 仪器介绍 热电 荧光能谱仪(EDXRF) 应对ROHS/WEEE检测绿色采购较佳帮手 热电能量色散X-荧光光谱仪(EDXRF)是较新的元素分析仪,是为实验室和工厂制造环境下满足绝大多数分析设计的,其强大的功能和灵活性对于许多元素分析应用是不可缺少的。有了热电,就不必在为元素的范围、分析性能、样品类型、分析便捷或可靠性担忧了。 应用领域： 应对RoHS & WEEE 指令分析 各种金属膜厚度测量、工业镀层厚度测量 气溶胶颗粒滤膜, 刑侦以及痕量分析 土壤、催化剂、矿石、原材料成份分析等 营养添加剂 ,各种油品成份分析等 磁性磁性介质和半导体,各种合金、贵金属成份分析