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产品名称: 温度冲击试验箱 产品型号: WHSTS-108L 产品展商: 东莞市伟煌试验设备有限公司 简单介绍: 温度冲击试验箱采用蓄冷方式，为待测产品静置冷、热交替冲击方式。温度冲击试验箱广泛使用于电子零组件测试、半导体、金属、化工、建材等行业。 温度冲击试验箱的详细介绍 ◆产品用途温度冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，*工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具.◆结构特点1.产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究，具有简单便利的操作性能和可靠的设备性能。设备分为高温箱,低温箱,测试箱三部分,采*特之断热结构及蓄热蓄冷效果，试验时待测物完全静止，应用冷热风路切换方式将冷,热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的.2.采用采用较先进的计测装置, 控制器采用大型彩色液晶人机触控对话式LCD人机接口控制器,操作简单, 学习容易, 稳定可靠,中，英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转，较大程度上实现自动化，减轻操作人员工作量，可在任意时间自动启动﹑停止工作运行；3.箱体左侧具一直径50mm之测试孔，可供外加电源负载配线测试部件。可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能，并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能，具备高低温试验机的功能。 4.具备全自动，高精密系统回路、任一机件动作，完全有P.L.C锁定处理，全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高.先进科学的空气流通循环设计，使室内温度均匀，避免任何死角;完备的安全保护装置，避免了任何可能发生安全隐患，保证设备的长期可靠性5.可设定循环次数及除霜次数自动（手动） 除霜. 出风口于回风口感知器检测控制，风门机构切换时间为10秒内完成，冷热冲击温度恢复时间为5分钟内完成。运转中状态显示及曲线显示,发生异常状况时,萤幕上即刻自动显示故障点及原因和提供排除故障的方法,并于发现输入电力不稳定时,具有紧急停机装置。6.冷冻系统采用复迭高效低温回路系统设计，冷冻机组采用欧美原装进口压缩机，并采用对臭氧系数为零的绿色环保（HFC）制冷剂R507，R23.**强安全保护功能：电源过载保护、漏电保护、控制回路过载、短路保护、压缩机保护、接地保护、**温保护、报警声讯提示等。◆主要技术指标1、內箱尺寸：【600*400*450（W*H*D）mm】2、温度范围：【高温箱＋60℃～200℃】【低温箱－40～－10℃】3 温度波动：【±0.5℃】4、温度误差：【≤±3℃】5、升温速率：【30℃～＋150℃≤30min】6、降温速率：【＋30℃～－55℃ ≤75min】7、样品转换时间：【≯15ｓ】8、温度恢复时间：【≤5min】11、电 源：【380V、50HZ；三相五线制】12、功 率：【约45KW】13、传感器位置：【出风口】◆满足的试验方法1、GB2423.1－89 试验A低温试验方法2、GB2423.2－89 试验B高温试验方法3、GB2423.22－89 试验N温度变化试验方法4、GJB150.3-86 高温试验5、GJB150.4－86 低温试验方法6、GJB150.5－86 温度冲击试验7、产品执行标准8、GB10589－89 低温试验箱技术条件9、GB11158－89 高温试验箱技术条件10、GB10592-89 高、低温试验箱技术条件11、配件技术资料及附件12、技术资料：产品合格证、使用说明书、电气原理图、保修卡、外购件合格证及外购件使用说明书等13、附件：易损件一套。