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产品规格：FP-16J
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行 业：仪器仪表 集成电路 IC集成电路
发布时间：2021-03-29
FPQ封装集成电路老化测试夹具(IC测试治具) 该系列夹具适用于FPQ封装的片状集成电路及阻容器件的老化、测试、筛选及可靠性试验作连 接之用。产品广泛运用于航空航天、军工、科研院所、电子、通讯. 产品型号及规格； FP-16J 主要技术指标； 间距；1.27mm 环境温度；-55℃—+155℃ 接触电阻；≤0.01欧 工作电压；DC500V 弹片金层厚度；2umAu:lu(镍金）
