供应TO封装集成电路老化测试插座

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产品规格：TO-4、6、8、10、12

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关 键 词：TO封装老化测试插座

行 业：仪器仪表 集成电路 

发布时间：2021-03-29

TO封装集成电路老化测试插座
该插座用于金属壳封装集成电路的老化、测试、筛选作连结之用，连结金属管材料采用磷青铜表面镀金、 镀银、镀镍等工艺，该插座耐高温、绝缘性能好，经久耐用，深受用户的欢迎。 
产品型号及规格； 
TO-4、6、8、10、12 
主要技术指标； 
环境温度；-55℃—+155℃  接触电阻；≤0.01欧     工作电压；DC500V     单脚插入力；≤0.2Kg     
磷青铜管镀银层厚度；1um镍2um银     高低温状态下插拔寿命；2000-3000次.