价格：100起
瑞环深圳有限公司(精工仪器中国代理)
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日本精工SFT9400 X射线荧光镀层厚度测量仪
产品副名称：可满足所有度层厚度测量需求的双检测器型镀层厚度测量仪
SFT9000系列中较高级的机型「SFT9400系列」
搭载有75W高功率X射线管与双检测器(半导体检测器+比例计数管)，能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“**微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。
此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。
产品型号：SFT9400、SFT9450、SFT9455
技术参数：
可测量元素：原子序数22(Ti)～83(Bi)
X射线源：小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶)
管电压： 50kV 管电流： 1.5mA Be 窗
滤波器：一次滤波器：Mo
照射方式：上方垂直照射方式
检测器：比例计数管+半导体检测(*液氮)
准直器：圆形：Φ0.015mm Φ0.05mm Φ0.1mm Φ0.2mm
安全性能：样品室门自锁功能、样品防冲撞功能、自动诊断功能
样品图像对焦方式：激光自动对焦
样品观察：彩色CCD摄像头 倍率光学器 卤素灯照明
样品平台大小及承重： SFT9400:240mm(W) ×170mm(D) 10kg
SFT9450:420mm(W) ×330mm(D) 5kg
SFT9455:700mm(W) ×600mm(D) 3kg
重量：SFT9400/SFT9450:125kg (不含电脑)
SFT9455:130kg(不含电脑)
修正功能：底材修正、已知样品修正、人工输入修正
测量报告书制作：配备MS-EXCEL® & MS-WORD®(使用宏支持自动制作测量报告书)
测量能谱与样品图像保存功能
产品特点：
★ 搭载有高功率X射线管及双检测器（半导体检测器+比例计数管）
可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。
能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量
对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量
可测量0.01μm以下的**薄的Au镀层厚度
★ 搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件
对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域
★ 适用**微小面积的测量
标准配备的15μmΦ的准直器，可对**微小面积进行测量。
★ 搭载了可3段切换的变焦距光学系统
★ 拥有防冲撞功能
★ 搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455）
★ 搭载激光对焦系统
★ 搭载测试报告自动生成软件
如果您有任何问题，请联系： 孟凌云 138 2433 9811 0755-29799352 转 12