天瑞仪器生产 x荧光厚度测量仪 无损镀层测厚仪铜基
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关 键 词：无损镀层测厚仪铜基
行 业：仪器仪表 分析仪器 X射线仪器
发布时间：2024-04-19
X射线测厚仪thick800a是天瑞仪器研制的检测金属厚度的仪器，已经在电镀行业得到大规模的应用，深受客户**。仪器采用特的上照式机构，能够适应各种不规则和体积大小样品的表面镀层测试。三维自动平台，可实现X/Y/Z轴的自动定位，操作性能好。产品实际性能同类三年以上。X射线电镀层膜厚仪介绍及图片：
X射线膜层测厚仪技术参数：
仪器尺寸：
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，
测试时，可开盖，对样品长度无限制
检测开槽口时，厚度10mm以上，宽度和深度没有限制。
样品台尺寸：230(W)×210(D)mm
范围：50(X)mm， 50(Y)mm
Z轴升降平台升降范围：0-140mm
2、仪器重量：90kg
3、SDD半导体探测器：
探测器输入电压：±12V，+5V
探头窗口面积：25mm-2---
探头窗口厚度：0.5mil
分辨率：140±5eV
探头内制冷温度：<-40℃
4、X射线光管：
管压：5-50kV
管流：0-1
材：W
窗口：铍窗
制冷方式：风冷
工作温度：≤75℃
5、高压发生器：
输入电压：24V
输入电流：5A
管压：0-50kV
管流：0-2
灯丝电压：5V
灯丝电流：3.5A
6、MCA多道分析器：
输入电压：±12V，+5V
采样频率：100 KHZ
脉冲幅度：0-7.6V
A/D位数：12位
分析道数：4096道
7、准直器系统：
准直器：Ø0.1 mm(可根据要求选配)
滤光片：Al(可根据要求选配)
8、高清晰摄像头：
传感器类型：CCD（彩色）
接口：U2.0
传感器厂商：索尼
快门类型：面阵
光学尺寸：1/4英寸
有效像素：659(H)×494（V）
有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：
感应度：0.58V（索尼标准）
颜色排列：RGB
帧率：30fps
快门速度：1/1538-1/30（秒）
9、自动对焦系统：
通用数字激光传感器、CMOS激光传感器
实现样品高度的自动对焦。
