金属镀层分析 深圳天瑞仪器 x荧光膜厚仪
价格：0.00起
产品规格：
产品数量：
包装说明：
关 键 词：金属镀层分析
行 业：仪器仪表 分析仪器 X射线仪器
发布时间：2024-01-03
对镀层膜厚检测、电镀液分析可分析；
对RoHS有害元素检测、重金属检测、槽液杂质检测、水质在线监测可进行快速检测，检测环境里的重金属是否**标。
同时具有以下特点：
快速：1分钟就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量精度要求。
方便：X荧光光谱仪部分机型采用进口国际上的电制冷半导体探测器，能量分辨率优于135eV，测试精度高。并且不用液氮制冷，不用定期补充液氮，操作使用加方便，并且运行成本比同类的其他产品低。
无损：测试前后，样品无任何形式的变化。
直观：实时谱图，可直观显示元素含量。
