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直读光谱仪误差范围 岛津光电直读光谱仪
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钢研纳克江苏检测技术研究院有限公司
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行 业：仪器仪表 分析仪器 元素分析仪
发布时间：2023-11-04
双光室技术
双光室技术将光谱仪拆分成两个光学系统，一个大光室，用来分析不需要氩气保护的可见光波段；一个小光室，用于分析需要氩气保护的紫外光波段。氩气用量很少，而且很快可以建立高纯氩气环境，另外氩气通过光室之后还可以循环到激发环节进行再利用，这样就解决了氩气浪费的问题。
此外，分成双光室之后，可以单对分析紫外的光学系统进行优化，提高光栅刻线数，进而提高分辨率，这样做对C、P、S等难分析的非金属元素的分析带来非常大的好处。当然，双光室技术也存在缺点，对于厂家而言，两套光学系统会导致成本升高，直读光谱仪价格也会上升。
经济下行、主要服务客户所在的整个钢铁行业低迷，对于钢研纳克光电直读光谱的市场和销售带来了很大挑战。不过，中国毕竟是一个工业化进行中的大国，对钢铁的需求仍在；虽然产能过剩但是用户的需求并没有减少，还是有这么多钢铁需要生产，而且钢铁材料下游的客户仍在；竞争加剧使得大家更加关注钢铁的质量；另外，新材料的开发和应用对检测技术产生了新的需求；各种因素的，使得对光电直读光谱仪器的需求仍然存在，或更高。
陈吉文说到，“市场规模扩大不容易，但是在有限的市场中，为了扩大我们公司的市场份额我们想了很多办法，如，开发有针对性的系列产品满足用户的需求。过去我们在黑色金属材料领域非常优势，但是直读光谱不但可以应用在黑色金属还可以用于有色金属如铜铝铅镁的检测，如，我们今年推出的CCD6000新产品在有色行业有很好的反响。”
直读光谱仪光电效应
光电效应的发现者是德国物理学家海因里希?赫兹（Heinrich Rudolf Hertz）。1886年12月，他在实验中意外发现：紫外线照射到金属表面时，能使金属发射带电粒子电流，这种奇特的现象后来被称为光电效应。
1902年，德国物理学家菲利普?莱纳德（Philipp Eduard Anton von Lénárd）对产生光电效应过程中各相关物理量间的关系进行研究时发现了一个重要规律：光电效应产生的光电子数目随入射光的强度增加而增加，但光电子的速度，或者说它们的动能只与入射光的频率有关，而与入射光的强度无关。这个实验结果用经典物理学完全无法解释。
1905年3月，犹太裔物理学家阿尔伯特·爱因斯坦（Albert Einstein）受普朗克**假设的启发，想像力地运用相对论和光**理论解释了莱纳德光电效应实验的结果，列出了光电方程式。但因没有直接的实验数据支持，他的这个理论解释那时并没有得到学术界的支持。
美国物理学家罗伯特·密立根（Robert Andrews Millikan）经过10年的实验，1916年以他精湛的实验结果证实了爱因斯坦的理论完全正确（其实他原本的意图是想用实验爱因斯坦的理论解释有误）。
光电光谱分析选用的分析线，必需符合下列要求。
直读光谱分析时，一般都采用内标法。因内标法进行分析时常采用多条分析线和一条内标线组成，常用试料中的基体元素为内标元素。组成的线对要求均称，就是当激发光源有波动时，两条线对的谱线强度虽有变化，但强度比或相对强度能保持不变。
如R表示强度比即 R=I1/I0
I1为分析线的强度，Io为内标线强度，表明I1和Io同时变，而R则不受影响。R与含量C之间有线性关系。
在光电直读光谱分析时，有很多分析通道，要安装许多内标通道有困难，因此采用一个内标线。但有人认为再要提高光电光谱分析的准确度还得采用不同的内标线，这还有待于光电转换元件的小型化来解决。
光电法时，有时还用内标线来控制曝光量，称为自动曝光，也就是样品在曝光时，分析线和内标分别向各自积分电容充电，当内标线的积分电容器充电达到某一预定的电压时，自动截止曝光。此时分析线的积分电容器充电达到的电压即代表分析线的强度I，并且亦即代表分析线的强度比R(因为R=I1/Io，而此时Io保持常数)这个强度I或强度比R就由测光读数所表示。
现在一般采用计时曝光法较为普遍。
