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粗糙度测厚仪 苏州实谱信息科技有限公司
价格:198000.00起
苏州实谱仪器有限公司
联系人:孙经理
电话:18860927557
地址:江苏省苏州苏州市干将西路399号205
x荧光镀层测厚仪产品详细资料介绍,x荧光镀层测厚仪技术参数和性能配置请咨询苏州实谱信息科技有限公司提供x荧光镀层测厚仪产品报价和操作说明。XTU是一款设计结构紧凑,模块精密化程度高的光谱分析仪,采用了下照式C型腔体设计,是一款一机多用型光谱仪。应用核心EFP算法和微光聚集技术,既保留了测厚仪检测微小样品和凹槽的性能,又可满足微区RoHS检测及成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。
能量色散X荧光光谱分析仪,是一款配备SDD探测器的率光谱分析仪!
此款产品可适用于固体和液体的含量检测,用于液体中高含量金属成分的检测,满足高测试精度和高准确度。
搭配微聚焦X射线发生器和的光路转换聚焦系统,以及高敏变焦测距装置,可测试微小和异形样品。
含量分析检出限1ppm,可检测镀层厚度0.005um ,小测量面积0.04mm² · 凹槽深度测量范围可达0至30mm,要求可达90mm。
外置的高精密微型滑轨,可以快速控制样品移动,移动精度0.005mm,速度10-30mm(X-Y)/圈,再小再多的样品测试都可轻松操作。
达克罗是DACROMET译音和缩写,简称达克罗、达克锈、迪克龙。
达克罗表面处理工艺具有很强的耐腐蚀性能,无氢脆性,高耐热性等优点,被广泛应用在*工业、汽车零部件、电力、建筑、海洋工程、家用电器、小五金及标准件、铁路、桥梁、隧道、公路护栏、石油化工、生物工程、器械粉末冶金等多种行业中。
技术难点:
长久以来由于达克罗种类繁多,成分中又有Al等X射线无法检出的轻金属元素,X荧光法一直无法在达克罗测厚应用。
XTU可完全覆盖五金类镀种,包括达克罗检测,不但可以测量出锌铝合金镀层的厚度,还可以分析出锌铝合金的含量。
随着科技的不断发展和创新,人们对于日常使用物品的外观和实用性要求也越来越高,于是装饰铬的应用领域也是越来越广,不管是汽车门把手,以及各种零配件,家用的卫浴,门把手等等工件上面都可以看到它们的身影。镀铬的工艺种类其实有很多,例如有防护性的装饰铬,耐磨性的镀硬铬,镀乳白铬,镀松孔铬,镀黑铬等等。
技术难点:
装饰类镀铬行业的测试难点主要体现在一下几个方面:
1.样品结构比较复杂,需要检测的区域高低不一。
2.样品表面的装饰Cr镀层一般在0.5um以下,Cr在元素周期表中靠前,其X射线荧光能量较弱,加上在异形件测试中,由于测试高度的变化,Cr荧光能量损耗严重,导致测试结果发生偏差。
3.塑料基材类的镀层,由于汽车行业的需求,镀铜镀镍层一般都很厚,底层的铜层由于Ni层较厚,铜层荧光不能穿透出来被接受,导致铜层无法测试。
4.而较薄的镀铜镍铬产品,在电镀时,塑料基体的正面和背面都有电镀,背面的铜镍的荧光可以轻易穿透基材塑料,从而被仪器接收,造成测试结果不能反映产品的真实镀层情况。
的XTD系列仪器,采用上照式的设计结构,加上自动/手动对焦以及变焦功能,轻松应对各种复杂结构的样品的测试。焦结构的设计加上EFP软件的距离补偿算法,自动补偿因测试距离变长导致的X射线荧光能量的衰减,测试结果更加准确。
由于化学镍镀层成分中含有磷(P)等X射线无法检出的轻金属元素,加上在不同应用领域中,P的含量高低不一等因素,以往采用的库伦法,X射线法等测量方法都存在准确度,可重现性等方面的不足。
库伦法因磷没有参与电化学反映,或者即使参与了反映,磷的反应与镍的反应过程与结果相差很大,造成仪器没有将磷在镀层中的存在的事实给与真实反映,由此造成测量的误差。传统的X射线检测时,由于镀层成分中的P比例是在不停变化的,通过固定镍与磷的比例的检测方法已不能完全反映样品的真实情况,造成测量的误差。
XTU不仅能测试化学镍的厚度,同时还能计算出成分中镍和磷的含量比例,很好的反应出产品的真实情况
公司宗旨:专注研发,生产,专精服务。
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