表面绝缘阻抗测试-全国性综合性大型第三方检测机构
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关 键 词：表面绝缘阻抗测试
行 业：咨询
发布时间：2023-07-04
本公司与2003年2月通过CNAS中国合格评定会的实验室认可，认可准则等同采ISO/IEC17025，认可证书编号：L0273
原理：在高温高湿状态且施加电压环境下，样品表面的残留离子、水份形成电解液，在电势差的作用下阳离子向阴转移并沉积析出形成枝晶，从而导致绝缘电阻下降或短路。
SIR测试对测试样品、测试条件均有要求，测试图形几何形状的差异可能会导致测量结果出现1次方的差异，线宽、线距、测试条件对测量结果有直接的影响，需根据实际应用的产品来设计。
SIR测试是表面绝缘电阻测试的简称，主要用于评估印制电路板、组件表面及周围相邻线路区域的表面清洁度（包括加工、制造过程的残留）对表面绝缘电阻的影响；评估产品使用物料（助焊剂、锡膏、阻焊膜等）的耐SIR能力及等级。
导电阳丝(CAFs)现象和其他电化学迁移的不一样的地方如下：Conductive AnodicFilaments
(1 )迁移的金属是铜，不是铅或锡。
(2) 导电阳丝是从阳向阳方向生长。
(3) 导电阳丝是由金属盐类构成的，而不是由中性金属原子构成的。
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