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有害物质 edx1800b 精工rohs检测仪
价格：85000.00起
苏州实谱仪器有限公司
联系人：孙经理
电话：18860927557
地址：江苏省苏州高新区紫金路85号3号楼3楼
rohs检测仪产品详细资料和参数介绍，由苏州实谱信息科技有限公司生产的ROHS检测仪型号EDX1800BS产品技术特点是采用下照式设计，样品腔大，可满足各种形状样品的测试需求。多种准直器和滤光片的电动切换，满足ROHS检测，镀层测厚，合金分析要求。定位测试很方便，人工操作简单易学，美国进口高分辨率Si-pin探测器，大的保证了仪器的检测精度。美国Amtek生产的X光管，使得仪器具备较高的稳定性，实现更高的测试效率。
仪器的性能是购买仪器很重要的一个指标
简单介绍下仪器心脏，探测器。为什么仪器的价格会相差那么远，很大原因就因为这个。依分辨率高低档次由低常用的探测器有NaI晶体闪烁计数器，充气（He, Ne, Ar, Kr, Xe等）正比计数管器、HgI2晶体探测器、半导体致冷Si PIN 探测器、高纯硅晶体探测器、高纯锗晶体探测器、电致冷或液氮致冷Si（Li）锂漂移硅晶体探测器、Ge（Li）锂漂移锗探测器等。 目前常用的是电致冷或液氮致冷Si（Li）锂漂移硅晶体探测器、Si PIN 探测器、高纯硅晶体探测器。探测器的性能主要体现在对荧光探测的检出限、分辨率、探测能量范围的大小等方面。所以你要仪器的检出限好你就要看它了。 低档探测器有效检测元素数量少，对被测物质中微量元素较难检测，分辨率一般在700－1100eV，一般可分析材料基体中元素数量较少，元素间相邻较远，含量较高的单个元素。中档探测器有效检测元素数量稍多，对痕量元素较难检测，分辨率一般在160－300eV， 一般用于检测的对象元素不是相邻元素，元素相邻较远（至少相隔1-2个元素以上），基体内各元素间影响较小。 探测器可以同时对不同浓度所有元素（一般从Na至U）进行检测，分辨率一般在100－180eV。可同时测定元素周期表中Na-U范围的任何元素。对痕量检测可达几个ppm量级。 前面那两档检测器，不能完全符合RoHS的要求，很多生产xrf的公司都宣称他们的仪器能对Na到U元素进行检测，但测试的时候能把na到u元素分开吗，我们都知道相邻元素会互相干扰，如果干扰了，你说做出来的数据会准确吗？ 电致冷或液氮致冷Si（Li）锂漂移硅晶体探测器的分辨率为140eV –165eV.电制冷不需要消耗液氮，但他制冷工艺复杂，价格也贵，靠消耗电来制冷，分辨率比液氮稍逊，但也完全符合rohs检测的要求。液氮制冷需消耗液氮，使用起来不方便，但液氮的温度很低，操作者必须注意安全，但它的分辨率比电制冷稍好。这里我们还要看探测器的面积，探测器面积越大，效率越高。测试的时间就越短。市面上探测器面积有5—15mm2不等。测试时间对RoHS这个行业也是很重要的，因为很多厂家的需检测的产品比较多，可能有300多个，甚至更多。如果购买了了一台低效率的XRF，你可能要再买几个才能满足你的测试量。 讲完了XRF几个关键的部件，谈下XRF的几个指标。a. 检出限 很多XRF商家使用仪器的检出限来迷惑客户，宣称他们的仪器检出限很低，能完全满足你的需要。仪器检出限是三倍仪器噪音的值，在实际使用中没有多大的意义。其实客户关心的是方法检出限，有现实意义的是方法检出限，也就是说在满足其它质控要求的条件下，实验所用的方法能从样品中检出目标物的小浓度。所以以后XRF商家说他们的仪器检出限有多么低的时候，你可以问下他们的方法检出限是多少。因为大家都知道在实际检出中，都存在基体干扰的，如果分辨率不好，虽然仪器检出限很低，但到具体检测一个样品的时候，方法检出限可能会使仪器检查限的几倍甚至几十倍。 b. 仪器的精度 一般XRF的精度都比较差，因为他属于筛选型的仪器，精度要好，除了仪器本身的原因以外，还同做标准曲线有很大关系。如果单说仪器的精度有多好，个人认为也是很不科学的。 c. 仪器的稳定性有的XRF商家说他们的仪器稳定性有多好，你就要看是短时间的稳定性还是长时间的稳定性了。短时间的仪器稳定性也是没什么意义的，一般以8小时长时间的仪器稳定性为标准。8小时稳定性<1%的仪器稳定性应该是不错的。
ROHS检测仪技术原理
RoHS检测仪目前市场上常见的类型是X射线荧光分析仪，又分为能量色散型和波长色散型，能量色散型因其技术原理及结构比波长色散型简单，现市场上比较常见，其技术原理：
特征X射线
同位素源或X射线发生器放出的X射线或Γ射线与样品中元素的原子相互作用，逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时，会放射该原子所固有能量的X射线-特征X射线。
元素含量与特征X射线强度的关系
不同元素特征X射线能量各不相同，依此进行定性分析；再根据特征X射线强度大小，可进行定量分析。
可用函数关系式表示为：C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
分析原理：
ROHS检测仪就是X射线荧光光谱仪，其分析原理也就是X射线荧光光谱仪的分析原理。波长色散X射线荧光光谱仪使用分析晶体分辨待测元素的分析谱线，根据Bragg定律，通过测定角度，即可获得待测元素的谱线波长：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ为分析谱线波长；d为晶体的晶格间距；θ为衍射角；n为衍射级次。利用测角仪可以测得分析谱线的衍射角，利用上式可以计算相应被分析元素的波长，从而获得待测元素的特息。
能量色散射线荧光光谱仪则采用能量探测器，通过测定由探测器收集到的电荷量，直接获得被测元素发出的特征射线能量：
Q=KE
式中，K为入射射线的光子能量；Q为探测器产生的相应电荷量；K为不同类型能量探测器的响应参数。电荷量与入射射线能量成正比，故通过测定电荷量可得到待测元素的特息。
待测元素的特征谱线需要采用一定的激发源才能获得。目前常规采用的激发源主要有射线光管和同位素激发源等。
为获得样品的定性和定量信息，除光谱仪外，还必须采用一定的样品制备技术，并对获得的强度进行相关的谱分析和数据处理。
关于测试PBB和PBDE的检测.机构的检测方法 A.在测试时会先采用X荧光进行测试，判断是否 含有溴的化合物。 B.如果含有Br就要用傅立叶变换红外色谱法（FTIR）对产品进行定性扫描，判断是否是PBB和PBDE两种溴的化合物； C.如果含有PBB和PBDE再用GC/MS(气/质联动)进一步进行定量分析 D.如果没有就出ND报告了。这种分析方法的不足之处就是检测程序复杂，测试时间很长，对工作人员的经验要求非常高，而且成本很高。
有相当一部分厂家特别是大型企业本身也有去一些检测机构做检测，但即使有了检测报告，面对手中上万件产品，心中仍会感到不踏实，因为检测中心只检测了其中的很少数的样品，无法给厂家一份安全感和踏实感。毕竟，如果自己的产品在通过欧盟海关的时候被检测出有害物质**标，那可能面临扣留产品、罚款、甚至是禁止该厂家产品进入欧盟市场等严厉处罚，这对中国一部分中小型电子电器企业可能是致命性的打击！因此，不少厂家开始寻求ROHS检测仪器，购置回厂中，定时定量地对自己的产品进行检测。由于检测次数的大大增加，那自然对自己的产品是否符合欧盟RoHS的标准有了比较深的了解，做到心中有数，然后针对情况做出有效措施。
此外，自己检测还可以省下一笔不菲的检测费用，并且检测时间很短，一个零部件仅需几分钟就可检测完毕，*等待检测机构一周的漫长时间，这也是某些厂家会考虑到的地方。
