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产品规格:tektronix DSA8300
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发布时间:2023-07-05
tektronix DSA8300 采样示波器 DSA8300价格 提示词DSA8300 维修DSA8300 tektronixDSA8300 DSA8300参数指标 "速率: 125 Mb/s - 400 Gb/s DC:70+ GHz 支持PAM-N 155 Mb/s to 10 Gb/s to 40 Gb/s to 100 Gb/s to PAM4 for 50G/100G/200G/400G" 电气模块信号测量精度: **低系统抖动(<100 fs,典型值) > 70GHz <100 fs 本底抖动允许对高位速率(40 和 100 (4´25) Gb/s)设备进行检定,典型 <5% 5="" 28="" 70="" ghz="">45 Gb/秒的 3 阶谐波)。 在所有带宽上实现业内较低的系统噪声: 较大值 600 µV(典型值 450 µV)@ 60 GHz 较大值 380 µV(典型值 280 µV)@ 30 GHz 较大程度降低仪器在采集高位速率、低幅度信号时的噪声量,避免可能带来附加抖动和眼图闭合的其他噪声。 单台主机内较多 6 个通道同时采集<100 fs 抖动。 多个差分通道的高保真采集可进行通道间损伤测试,提高多个高速串行通道系统的测试吞吐量。 光模块支持从 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太网所有标准速率的光一致性测试。 为单模和多模光标准提供经济实惠、功能多样的光测试系统,从 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s(SONET/SDH 和 40GBase 以太网)和 100 Gb/s 以太网(100GBase-SR4、-LR4 和 ER4),波长 850、1310 和 1550nm。 优异的采集吞吐量,采样率较高 300 kS/s。 通过优异的系统吞吐量,可将制造或设备检定测试时间缩短 4 倍。 能够将采样器放到被测设备 (DUT) 的附近。 远程采样头较大程度降低因 DUT 至仪器之间的电缆和夹具造成的信号劣化,简化测试系统的反嵌。 独立的已校准通道相差校正。 双通道模块中具有集成的已校准通道相差校正,消除时滞,增强多通道测量的信号保真度