x射线荧光光谱仪实验室 X光谱分析仪
价格：0.00起
产品规格：
产品数量：
包装说明：
关 键 词：x射线荧光光谱仪实验室
行 业：仪器仪表 分析仪器 成份分析仪
发布时间：2023-06-24
SDD探测器
数字多道分析系统
X射线源
高低压电源
准直器滤光片系统
精密移动平台
光闸系统
样品观测系统
电子控制系统
计算机及喷墨打印机
X荧光光谱仪分析法中不同样品有不同的制样方法。金属样品如果大小形状合适，或者经过简单的切割达到X 荧光光谱仪分析的要求，只需表面抛光，液体样品可以直接分析，大气尘埃通常收集在滤膜上直接进行分析。而粉末样品的制样方法就比较复杂。这里只对常见的固体和粉末样品的制样方法进行讨论，液体样品就不再讨论。
1、固体样品的主要缺点是，一般情况下不能采用各种添加法：如标准添加（或稀释）法、低（或高）吸收稀释法、内标法等。若所有样品中已经含有适当的、一定浓度的内标元素，则上述的后两种方法还是可用的。另外，也不能进行化学浓缩和分离。表面结构和成分有时也难取得一致。可能弄不到现成的标样，而人工合成又很困难。
2、制样方法，固体样品可用未加工的或经加工的大块材料或原材料（如生铁，钢锭等）制取。另外，也可把熔炉的熔融物直接浇铸到小模子里。为防止缓慢冷却时发生的成分偏析，好用激冷。经抛光的原材料，或经砂轮磨打的表面，一般是令人满意的，但对后者仍需进一步抛光，以减少表面粗糙度，并除去加工损伤的和没有代表性的表面层。抛光的方法有许多种，包括：
（1）行带式磨削，然后用抛光器抛光，其砂纸粒度依次由粗变细
（2）用车床、铣床或刨床进行加工。对于薄板和箔，必须仔细操作，以保证表面不出现翘曲、和折痕。特别要注意不能照射时间太长，以免受热变形。薄板和箔必须衬上一块刚性支撑物，或把它们粘在一起。
制备固体样品时要注意：
（1） 样品的分析面不能有气孔，析出物和多孔质现象。
（2） 防止偏析。造成偏析的因素：合金的组成和密度；铸模的材料、形状和厚度；合金熔化温度、浇铸温度和被浇铸样品的冷却速度等。
多功能分析仪 Ux-310
Ux-310 多功能分析仪应对RoHS指令，无卤指令，WEEE指令，土壤、矿石成分分析，铜合金、不锈钢牌号识别的机型。三重射线防护系统；人性化操作界面；即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六价铬的Cr和无卤指令中的Cl和Br元素，又能够对土壤、矿石成分分析，铜合金、不锈钢牌号识别。可完全满足客户环保管控要求和材料识别。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于多材料的工厂制程控制。
应用领域：
用于RoHS指令管控的产品：大型家电、小型家电、信息技术及通讯设备、电动工具、玩具等设备
用于无卤指令管控的产品：用含有Cl、Br等元素的阻燃剂作为原料的产品
用于铜合金、铁合金、铝合金、钛合金、高温合金及各种混杂合金等合金材料内元素成分分析和含量测试
技术指标:
1、仪器尺寸：680(W)x400(D)x390(H)mm
2、样品腔尺寸：300*360*100mm；
3、测试元素范围：S-U中的元素
4、检测范围：1ppm-
5、RoHS检测限：Pb≤5ppm,Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm
6、测试样品类型：固体、粉末和液体
7、测量时间 ：120-400s ( 系统自动调整 )
8、佳分辨率：见下面探测系统详细参数说明
9、准直器：Φ2mm、Φ5mm
10、滤光片：8种复合滤光片自动切换
11、CCD观察：130万像素高清CCD
12、样品微动范围：XY8mm
13、输入电源：AC220V～240V，50/60Hz
14、额定功率：350W
15、重量：约45Kg
16、工作环境温度：温度15-30℃
17、工作环境相对湿度：≤85%（不结露）
**薄窗X光管
针对合金的测试而开发的配件
SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比
低能X射线激发待测元素，对Pb、S等微含量元素激发效果好
智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性；
高信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制；
内置高清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然
