高新区镀层测厚仪 x荧光膜厚仪 深圳天瑞仪器
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行 业：仪器仪表 分析仪器 X射线仪器
发布时间：2023-06-11
利用天瑞仪器的explorer5000镀银层测厚仪分析一系列铜镀银样品，所得结果如下表。各个数据点相关系数为0.996，线性相关性非常好。当银厚度为1-30 μm 范围内，测量值与标称值平均误差为0.6 μm， 30-60 μm 范围内平均误差为 1.3 μm，相对误差小于4%，在可接受范围以内，测厚范围可达1-60 μm。
