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欢迎咨询本期，笔者重点介绍同步辐射XAFS技术，不依赖于长程有序结构，可用于非晶态材料的研究；不受其它元素干扰，可对同一材料中不同元素分别研究；不受样品状态影响，可测量固体（晶体、粉末），液体（溶液、熔融态）和气体等；对样品无破坏，可进行原位测试；，近年来，XAFS在国内外各大小课题组研究过程中有着越来越普及的趋势，尤其是越来越多此前在XAFS表征方面没有太多经验的新用户也逐渐通过多种渠道借力该技术进行深入的表征，提升研究档次。
当体系存在N种元素时，就有N（N-1）种的组合，也就是这么多种类的偏函数，但我们只知道总结构因子，所以一个方程解三个未知数是不可能的，需要三个不同的实验才能解出偏结构函数，当然，我们还可以利用异常X射线散射得到偏函数，基于此，美国阿贡guo家实验室KarenMulfort等人利用高能X射线散射和原子对分布函数（HEXS/PDF）分析观察双金属Cu/Ru/Os配合物在溶液相和固态构象的差异。
检测精度同步辐射代算{工艺层层把关} 1. 离子溅射去除样品表面层的时候，是对样品表面一个特定区域进行溅射，还是同一次上样的所有样品都会被溅射到？ 答：是对一个区域，几百微米到毫米级别。 2.C1s校正后，其他峰和标准峰峰位相差多少算合理？以及分峰的峰位相差在多少范围内合理？ 答：有些峰会偏移的大一些，一般情况，峰位相差0.5eV以内，如果相差过大，需要考虑是否是校正存在问题。 3.峰拟合的时候，半高宽需要设置一样吗？ 答：一般情况，我们在初拟合的时候都是设置成一样的，包括自旋轨道分裂峰，如果存在特殊情况，峰位相差较大，比如Ti2p、C=O是可以放开的，只要在0.7-2eV区间都是合理的。