x射线荧光镀层测厚仪原理IC载板
价格：900000.00起
苏州实谱仪器有限公司
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关 键 词：x射线荧光镀层测厚仪原理IC载板
行 业：仪器仪表 机械量测量仪表 测厚仪
发布时间：2023-05-06
毛细管聚焦微小样品**薄厚度镀层分析仪产品详细资料介绍，多导毛细聚焦x射线膜厚测试仪性能配置和技术参数请咨询实谱公司提供多导毛细聚焦技术X射线镀层测厚仪的产品应用解决方案，X射线测厚仪被应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合*定位决了大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。
在高集成光路系统的基础上，搭配多导毛细管 实现小面积或薄镀层的高速、、稳定的测量，聚焦直径可小至10μm，可产生比准直器机构强千倍的信号强度多导毛细管将激发光束高强度的集中在一个的小光斑上，从而显著缩短测量时间， 在测量纳米级Au厚度或薄膜层厚度及成分时，满足微小光斑、短测量时间的同时，测量效果接近
测量精度更高：新开发的特的光学器件和多导毛细管技术可对**微小区域及纳米级薄层高精度测量
**微小样品检测：测试小测量点直径可达10µm
测量效率高：高灵敏度、高解析度X荧光检测系统搭配多导毛细管技术，测量时间更短，能够实现普通机型几倍的检测量
X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。-个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子(如K层)在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚,释放出来,电子的逐放会导致该电子壳层出现相应的电子空位。这时处于高能量电子壳层的电子(如:L层)会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应的电子空位。由于不同电子壳层之间存在着能量差距,这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来,不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。这一个过程就是我们所说的X射线荧光(XRF)。元素的原子受到高能激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有-定特殊性波长的X射线,根据莫斯莱定律,荧光X射线的波长λ与元素的原子序数Z有关,其数学关系如下:
λ=K(Z- S)-2
产品配置及技术指标说明
X 射线光管：50KV ，1mA 钼钯
检测系统：FAST SDD 探测器
检测元素范围：Al ( 13) ~ U(92)
应用程序语言：英／中
测量原理：能量色散X射线分析
分辨率：125±5eV
焦斑直径：15μm
分析方法：FP/校准曲线，吸收，荧光
样品移动距离：可设置
毛细管镀层分析产品特点：
1、多导毛细光学系统和高性能SDD探测器：区别金属准直，多导毛细管可将光束缩小至10 μm，同时得到数千倍的强度增益。可测量**微小样品的同时大程度保证了测试的准确性及稳定性。
2、微米级**小区域：在Elite-X光学系统设计下大大降低检出限，纳米级**薄镀层均可准确、可靠测试
3、广角相机：样品整体形貌一览无余，且测试位置一键直达
4、搭配高分辨微区相机：千倍放大*对焦测试区域，搭配XY微米级移动平台，三维方向对焦聚焦测试点位，误差<±2 μm
5、多重保护系统：V型激光保护，360°探入保护，保护您的样品不受损害，保证仪器安全可靠的运作
6、全自动移动平台：可编程化的操作，针对同一类型样品，编程测试点位，同一类样品自动寻路直接测试
7、人性化的软件：搭配EFP核心算法软件，人机交互，智慧操作
8、可搭配全自动进送样系统
