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对于光谱仪的具体介绍,下面就和小编一起来看看吧!光谱仪是将成分复杂的光分解为光谱线的科学仪器。光谱仪有多种类型,除在可见光波段使用的光谱仪外,还有红外光谱仪和紫外光谱仪。按色散元件的不同可分为棱镜光谱仪,成分分析光谱仪测量仪、光栅光谱仪和干涉光谱仪等。按探测方法分,有直接用眼观察的分光镜,成分分析光谱仪测量仪,用感光片记录的摄谱仪,以及用光电或热电元件探测光谱的分光光度计等。单色仪是通过狭缝只输出单色谱线的光谱仪器,常与其他分析仪器配合使用,成分分析光谱仪测量仪。ICP是液体进样,对操作员要求比较高,但是可以分析非金属材料,应用领域更宽广。成分分析光谱仪测量仪
管他叫直读的原因是相对于摄谱仪和早期的发射光谱仪而言,由于在70年代以前还没有计算机采用,所有的光电转换出来的电流信号都用数码管读数,然后在对数转换纸上绘出曲线并求出含量值,计算机技术在光谱仪应用后,所有的数据处理全部由计算机完成,可以直接换算出含量,所以比较形象的管它叫直接可以读出结果,简称就叫直读了,在国外没有这个概念。直读光谱仪和ICP都属于发射光谱分析仪器,区别在于他们的激发方式不同,ICP中文名字是电感耦合等离子体,是通过线圈磁场达到高温使样品的状态呈等离子态然后进行测量的,而直读光谱仪一般采用电火花,电弧或者辉光放电的方式把样品打成蒸气进行激发的,在效果上ICP要比直读光谱仪器的检出限小,精度高,但是在进样系统上要求非常严格,没有好的进样系统就只能做溶液样品。 光电直读光谱仪哪个品牌上海晗彬检测设备有限公司销售进口便携式光谱仪。
标准编号 |
标准名称 |
代替标准号 |
实施日期 |
GB/T3653.7-2020 |
硼铁 硫含量的测定 红外线吸收法 |
— |
2020.1.7 |
GB/T4698.10-2020 |
海绵钛、钛及钛合金化学分析方法 *10部分:铬量的测定 硫酸亚铁铵滴定法和ICP-OES法 |
GB/T4698.10-1996 |
2020.1.2 |
GB/T4702.18-2020 |
金属铬 钒含量的测定 钽试剂三氯甲烷萃取 分光光度法 |
— |
2020.1.7 |
GB/T5193-2020 |
钛及钛合金加工产品超声检验方法 |
GB/T5193-2007 |
2021.1.2 |
GB/T13747.27-2020 |
锆及锆合金化学分析方法 *27部分:痕量杂质元素的测定 ICP-OES法 |
— |
2021.1.2 |
GB/T13747.3-2020 |
锆及锆合金化学分析方法 *3部分:镍量的测定 丁二酮肟分光光度法和ICP-OES法 |
GB/T13747.3-1992 |
2021.1.2 |
GB/T13747.4-2020 |
锆及锆合金化学分析方法 *4部分:铬量的测定 二苯卡巴肼分光光度法和ICP-OES法 |
GB/T13747.4-1992 |
2021.1.2 |
.随着时代的发展,分析仪的应用越来越广,下面就带大家来介绍一下分析仪的进基本效应。实际工作中被测量的样品,往往其成份是由多种元素组成,除待测元素以外的元素统称为基体。由于被测量的样品中,其基体成份是变化的(这个变化一是指元素的变化,二是指含量的变化),它直接影响待测元素特征X射线强度的测量。换句话说,待测元素含量相同,由于其基体成份不同,测量到的待测元素特征X射线强度是不同的,这就是基体效应。光谱分析仪基体效应是X射线荧光定量分析的主要误差来源之一。手持式光谱仪却是一种基于XRF(X Ray Fluorescence,X射线荧光)光谱分析技术的光谱分析仪器。
材料可靠性鉴别(PMI)Vanta分析仪可以根据美国石油学会推荐规程578(API-RP-578)验证是否在关键位置上安装了正确的合金,从而有助于确保精炼厂、石油化工厂以及其它处理厂的安全。贵重或关键部件及机械的制造商和安装人员在了解这些部件及机械装置使用了正确牌号的合金的情况下,就会放下心来,不用担心安全问题,尽管可能知道材料的来源。废旧金属回收分拣(sorting)机械加工的金属边角料,报废的金属材料需要回收再利用;通过Vanta分析仪可在现场快速鉴别合金化学成分,评估金属价值,并对废旧金属进行分拣,重新打包,按照不同的化学成分制成对应炉料,可以提高金属回收再利用流程中各阶段的价值。制造业质量控制(QA/QC)企业生产通过Vanta分析仪现场快速完成金属来料,制成,仓管,出货过程中的牌号、化学成分品质检测,避免因产品混料、材质不达标等问题给企业带来的经济和名誉损失。金属镀层测厚在很多行业中,都需要测量产品的涂层厚度。Vanta分析仪的镀层模式可以在几秒钟内测量出以微米为单位的涂层厚度。这个功能可以多测量3层覆盖在任何类型基底上的涂层,基底材料可以是金属、塑料、玻璃,甚至木材。火花直读光谱仪波长范围120-800nm,取决于多光学系统配置,多可以设置3个光学系统。成分分析光谱仪测量仪
制造业对光电全谱光谱仪的要求不断提高。成分分析光谱仪测量仪
光谱分析仪器入射光经光栅衍射后,相邻刻线产生的光程差,则可导出光栅方程,光栅方程将某波长的衍射角和入射角通过光栅常数d联系起来,为入射光波长,m为衍射级次,取等整数。式中的""号选取规则为:入射角和衍射角在光栅法线的同侧时取正号,在法线两侧时取负号。如果入射光为正入射,光栅方程变为。衍射角度随波长的变化关系,称为光栅的角色散特性,当入射角给定时,可以由光栅方程导出复色入射光进入狭缝S1后,经M2变成复色平行光照射到光栅G上,经光栅色散后,形成不同波长的平行光束并以不同的衍射角度出射,M2将照射到它上面的某一波长的光聚焦在出射狭缝S2上,再由S2后面的电光探测器记录该波长的光强度。光栅G安装在一个转台上,当光栅旋转时,就将不同波长的光信号依次聚焦到出射狭缝上,光电探测器记录不同光栅旋转角度(不同的角度**不同的波长)时的输出光信号强度,即记录了光谱。这种光谱仪通过输出狭缝选择特定的波长进行记录,称为光栅单色仪。成分分析光谱仪测量仪
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