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因此，我们可以根据光电子的结合能定性分析物质的元素种类，XPS定性分析元素的化学态与分子结构，基本原理：原子因所处化学环境不同，其内壳层电子结合能会发生变化，这种变化在谱图上表现为谱峰的位移（化学位移），对于对某一固体试样中两个元素i和j，如已知它们的灵敏度因子Si和Sj，并测出各自特定谱线强度Ii和Ij，则它们的原子浓度之比为：ni:nj=(Ii/Si)：(Ij/Sj），因此可以求得相对含量。
此外，EDS只能检测元素的组成与含量，不能测定元素的价态，且EDS的检测限较高（含量＞2%），即其灵敏度较低，而XPS既可以测定表面元素和含量，又可以测定表其价态，成都XPS的灵敏度更高，很低检测浓度＞0，1%，老师，我感觉XPS数据分析不大准，答：不少人说XPS分析不准，其实很多时候，不是仪器原因，而是我们的知识储备影响着我们的判断，与右边标准谱图对比，很右边是卫星峰，而左图直接标示为Ni(OH)2和NiO。
当用XPS测量绝缘体或者半导体时，由于光电子的连续发射而得不到电子补充，使得样品表面出现电子亏损，这种现象称为“荷电效应”，荷电效应将使样品表面出现一稳定的电势Vs，对电子的逃离有一定束缚作用，因此荷电效应将引起能量的位移，使得测量的结合能偏离真实值，造成测试结果的偏差，高分辨谱经过分峰拟合之后，就可以用来确定元素的化学态了，或者通过反应前后样品的高分辨谱图对比来得到其表面电子结构的变化信息等等。