波长色散x荧光光谱仪 天瑞生产厂家 x射线荧光谱分析仪
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关 键 词：x射线荧光谱分析仪
行 业：仪器仪表 分析仪器 成份分析仪
发布时间：2023-03-05
本产品是在天瑞仪器多年XRF检测技术和经验基础之上研发的一款新型X射线荧光光谱测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现**高计数率，1秒出结果，准确分析贵金属含量。同时，具备二维移动平台及高清工业摄像头，实现样品定位
方法应用
①粉末压片法分析痕量元素
粉末压片法多用于分析痕量元素配合熔融法分析主量元素。
②粉末压片法分析主、次、痕量元素
粉末压片法也常用于地质、化探、冶金等样品的全分析。
③熔融后再粉碎压片
熔一块均匀、表面光滑的融片是一项技巧性很强的工作，有些样品不易脱模或容易碎裂，有的对Pt-Au坩埚有腐蚀作用，熔融后粉碎压片的方法（可用石墨坩埚代替Pt-Au坩埚）既可消除颗粒度效应的影响，又解决了不易成型的问题。熔融后再粉碎压片来测定地质试样中的全硫，这样可减小粉末样片保存过程中硫价态变化对分析准确度的影响。
一般来说，对于煤、水泥、岩石、土壤等样品的常规分析，用粉末压片法可达到分析精度和准确度为5%左右的要求。大多数痕量元素的检出限可达100μg/g左右，因X荧光光谱仪有较好的稳定性，还可通过延长计数时间使检出限进一步降低。用粉末压片法制样，结合自动进样装置和自动化分析仪，一次即可准确地分析20-30种元素，完全可以满足地质、矿产、商检等部门的分析需要。
如前所述，粉末压片是根据一定的分析对象进行试验，以选择制样条件，包括各种添加剂的使用、粉碎时间、压力、标样的选取等。这样造成的结果是，对一种分析对象提出的方法不能应用到其它试样中去。关键是尚未找到一种实用有效的粉碎技术，可将粉末试样碎至1-2μm，这种粉碎技术要简单易行，否则就失去了X荧光光谱仪分析快速方便的特点。
快,1秒钟出结果
1、采用行业的速探测器技术——（SDD）分辨率低至125eV
优势：探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好
对贵金属的探测效率高，探测信噪比强，检出限低
2、采用行业的数字多道技术
优势：有效提高输出效率，实现**高计数率，保证采集有效计数率**过600KCPS
3、采用大功率X光管及的准直滤光系统
优势：使贵金属的激发效率高
4、光闸系统
优势：样品换*关闭高压，提高测试效率与测试精度
**薄端窗X光管
电制冷UHRD探测器
内置高清晰摄像头
光路增强系统
可自动切换型准直器和滤光片
加强的金属元素感度分析器
外观尺寸： 510×589×350 mm
样品杯尺寸（10个）：40.7×26mm
重量：55Kg
