重金属 xrf检测仪器供应
价格:85000.00起
苏州实谱仪器有限公司
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rohs检测仪产品详细资料和参数介绍,由苏州实谱信息科技有限公司生产的ROHS检测仪型号EDX1800BS产品技术特点是采用下照式设计,样品腔大,可满足各种形状样品的测试需求。多种准直器和滤光片的电动切换,满足ROHS检测,镀层测厚,合金分析要求。定位测试很方便,人工操作简单易学,美国进口高分辨率Si-pin探测器,大的保证了仪器的检测精度。美国Amtek生产的X光管,使得仪器具备较高的稳定性,实现更高的测试效率。
XRF元素分析仪一般使用以下三种类型探测器中的一种:“Prop”(比例)计数器、硅PIN二管,以及硅漂移探测器(SDD)。
比例计数器是一种气体电离装置,通过产生与能量成比例的检测器输出来测量入射的能量。比例计数器有一个相对更好的检测窗口用于捕获荧光X射线。它们工作在中等电压范围,非常适合于测量传统的单层(和一些多层)电镀沉积物。
值得一提的是,比例计数仪器是这三种类型探测器中价格便宜的,对于不需要高分辨率的简单应用,可以有效看到光谱峰的分离。但是,这类探测器同样存在一些缺点,主要包括高基线噪声和需要频繁的进行校准。
温度控制对这些设备至关重要,因为探测器需要使用一些对温度变化高度敏感的气体——比任何固态探测器都要敏感得多。充气管还会随着时间的推移而可能发生一定的泄漏。尽管它有这些缺点,但由于检测窗口较大,其通量通常较高,因此它可以检测到大量的光子。所以,虽然应用领域可能有限,但标准偏差较好。
硅PIN二管提供的光谱分辨率优于比例计数器。这意味着操作人员可以测量更薄的沉积物和更低的元素浓度,并执行一些更复杂的测量,例如合金和厚层样品以及涉及到未识别材料的测量。凭借Peltier效应(TEC/TEM)冷却技术,硅PIN探测器具有更低的噪音,而且分辨率和检测限都更加出色,结果也更加稳定。
硅漂移探测器通常能够产生比前两者更高的计数率和光谱分辨率,一般值比硅PIN二管探测器高出50%左右。与比例计数器相比,峰值背景比率得到了显著的改进,基线噪声也更低,可以得到更好的检测限和更大的元素测试范围。
因为有效地消除了背景噪声,所以硅漂移探测器能够非常地测量重叠元素——周期表上的那些“相邻”元素,如镍、铜、锌以及铬和铁(它们之间的信号分离小)。而原来使用的一些技术,如果没有数学计算就无法解决这些重叠元素的测试。今天,由硅PIN和硅漂移探测器提供的分辨率改进就很好地消除了对数学计算或数字滤波的需要。
与硅PIN一样,硅漂移探测器芯片组也是根据Peltier效应冷却的,不受气候影响,并且不需要氮气储存。所以,这些探测器几乎不需要进行太多的维护。硅漂移探测器是50μm以下薄膜样品以及一些复杂技术领域中应用的薄膜的检测器,包括ENIG、EPIG和ENEPIG(化学镀镍浸金、化学镀钯浸金和化学镀镍钯浸金)等。
优化散热设计,散热效果更好
内置高清摄像头,准确的观察样品放置位置
打破传统仪器直线的设计,采用流线体的整体化设计,仪器时尚。
采用美国型的Si-pin探测器,电致冷而非液氮制冷,体积小、数据分析准确且维护成本低。
采用的SES信号增强处理系统,有效提高测量的灵敏度,让测量更。
一键式自动测试,使用更简单,操作更方便,界面更人性化。
产品特点(测试对像:粉未、固体、液体)
1、从硫(S)到铀(U)的快速元素分析;
2、检测灵敏度0.01%到;
3、测量时间短,每个测量只需60-200秒。
4、500万像素彩色CCD系统用于样品图像观察。
5、有多种规格的准直器和滤光片选用,5组准直器和4组滤光片组合电动自动切换,满足各种物质测试方式应用。
6、电制冷Si-Pin探测器,提高测量稳定性,提高分析的准确性,*耗材。
7、机械结构简单,可靠
8、国际ling先的定性定量分析算法:FP基本算法,经验系数法、网络法、基本参数法;
9、全封闭式金属机箱及防泄漏保护开关设计,更好地**操作员的人身安全。流水线型外观,美观,仪器内部空间大样品腔,仪器内部通风性优,并有效屏蔽电磁干扰
10、ling先的**短光路设计,风冷型的X光管配套特有的光管管控程序程序,散热更好,良好的散热系统,更能保证仪器的**长使用,并能有效的X光管的寿命
11、上照式:可满足各种形状样品的测试需求,的样品成像准直系统,实现对样品的准确点测。
12、自动谱线识别、多元素同时定性定量分析、让用户方便认识分析样品的组成,设置了自动安全防护开关,以确保用户安全使用。
ROHS检测仪技术原理
RoHS检测仪目前市场上常见的类型是X射线荧光分析仪,又分为能量色散型和波长色散型,能量色散型因其技术原理及结构比波长色散型简单,现市场上比较常见,其技术原理:
特征X射线
同位素源或X射线发生器放出的X射线或Γ射线与样品中元素的原子相互作用,逐出原子内层电子。当外层电子补充内层电子时,会放射该原子所固有能量的X射线-特征X射线。
元素含量与特征X射线强度的关系
不同元素特征X射线能量各不相同,依此进行定性分析;再根据特征X射线强度大小,可进行定量分析。
可用函数关系式表示为:C=f(k1I1, k2I2, k3I3...)
实谱公司集仪器研发、系统设计、产品生产、服务提供为一身的综合性仪器供应厂商,一直以来严格遵循“360°服务”的客户服务理念,以提高顾客满意度为根本目标,从服务力量、服务流程、服务内容等各个方面为客户提供的服务。我公司为客户提供技术咨询、方案设计、技术交流、产品制造、系统集成、现场勘察、工程实施、技术培训、服务热线、故障处理、、巡检等全过程、、全系列的服务。这些不仅让客户体验到天瑞仪器高质量的服务,更为客户创造了更高的价值。“快速、准确、到位”的服务。