TEKTRONIX 371A晶体测试仪收购 出售泰克Tektronix370B半导体/
价格：面议
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产品数量：9999 个
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关 键 词：TEKTRONIX,371A晶体测试仪收购
行 业：仪器仪表 电子测量仪器 蓝牙测试仪
发布时间：2023-02-09
高价收购二手仪器、工厂倒闭仪器、个人闲置仪器仪表
ST-SP 2005
晶体管测试仪
产品特点
Ø测试范围广（类，27分类）
Ø升级扩展性强，通过选件可提高电压电流，和增加测试品种范围。支持电压电流阶梯升级至2000V,1250A
Ø采用脉冲测试法，脉冲宽度为标规定的300us
Ø被测器件引腿接触自动判断功能，遇到器件接触不良时系统自动停止测试, 保证被测器件不受损坏
Ø真正的动态跨导测试。（主流的直流方法测动态跨导 ，其结果与器件实际值偏差很大）
Ø系统故障在线判断修复能力，便于应急处理排障
Ø二极管极性自动判别功能，*人工操作
ØIV 曲线显示 / 局部放大
程序保护电流/电压,以防损坏
Ø品种繁多的曲线
Ø可编程的数据点对应
Ø 增加线性或对数
Ø可编程延迟时间可减少器件发热
Ø保存和重新导入程序
Ø保存和导入之前捕获图象
Ø曲线数据直接导入到
Ø曲线程序和数据自动存入
泰克/TEKTRONIX 370晶体管测试仪TEK370回收
主要参数：·半导体器件高精度测量
-上限达2000V或电流到10A的源（370A）
-上限到3000V（371A）
-上限到220W（370A）
-上限到400A（371A）
-1nA的测量分辨率
-上限到3000W（371A）
·上限到2mV的测量分辨率（370A）
·波形对比
·包络显示
·波形平均
·点光标（370A）
·Kelvin传感测量
·全程控
·MS-DOS兼容的软盘，方便设置参孝存储和调用
应用
手动或自动进行半导体高分辨率DC参数测量
来料检查
生产测试
过程监视及质量控制
数据报告的生成
元件配对
失效分析
工程测试
交互式程
所有交互式程控测量是通过有鲜明特点的前面板或GPIB来完成的。使用几种存储方式，调整和存储操作参数，包括370A的非
易失存储器、内置的MS-DOS兼容的软盘或到外部控制器。
测试夹具
测试夹具是标准附件，它提供被测器件安全防护，以保护测量人员的安全。测试夹具适应标准的A1001，中间通过Kelvin传
感的A1005适配器、无Kelvin传感的3芯适配器和A1023、A1024表面封装适配器。
370A程控特性曲线图示仪
370A是**的高分辨率特性曲线图示仪，可应用到许多场合。370A能完成晶体管、闸流管、二极管、可控硅、场效应管
、光电元件、太阳能电池、固态显示和其它半导体器件的直流参数特性的测试。
在研发实验室，用370A来完成新器件、SPIEC参数的提取、失败分析和产生数据报告这些具体的测试工作
在制造过程中，用370A检验器件质量及过程监视。
370A可进行来料检查、器件性能测试、失效分析和器件配对这些测试工作。
技术指标 集电极电源 模式 AC,±DC,±泄露，±整流的正弦波 范围 峰值电流（±） 峰值电流（脉冲式）（±） 16V 10A 20A 80V 2A 4A 400V 0.4A 0.8A 2000V 0.05A 0.1A 阶梯信号发生器 模式 阶梯：DC,80μS脉冲，300μS脉冲 阶梯量程- 电流： 50nA到200mA，按1-2-5顺序 电压： 50mV到2V，按1-2-5顺序 偏置 到±10X阶梯幅度 阶梯数 0到10 测量特性 集电极电流- 测试量程： 100nA/div(1nA分辨率）至2A/div误差，1.5%光标读出+0.05div设定值（点光标） 发射较电流- 测试量程： 1nA/div(10pA分辨率）至2mA/div 误差 1.5%光标读出+0.05div设定值+1nA 安全标准 UL1244，CSA231，HD401S1
晶体管测试仪产品应用
应用领域
院所、高校、半导体器件生产厂商、电源、变频器、逆变器、变流器、数控、电焊机、白色家电、新能源汽车、轨道机车等所有的半导体器件应用产业链 ……
主要用途
测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试）
失效分析（对失效器件进行测试，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案 ）
选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较*的器件进行分类配对）
来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
产线自动化测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类机械设备，实现规模化、自动化测试）
XJ4810型晶体管特性图示仪面板功能介绍
1. 集电极电源极性按钮，极性可按面板指示选择。
2. 集电极峰值电压保险丝：1.5A。
3. 峰值电压%：峰值电压可在0～10V、0～50V、0～100V、0～500V之连续可调，面板上的标称值是近似值，参考用。
4. 功耗限制电阻：它是串联在被测管的集电极电路中，限制**过功耗，亦可作为被测半导体管集电极的负载电阻。
5. 峰值电压范围：分0～10V/5A、0～50V/1A、0～100V/0.5A、0～500V/0.1A四挡。当由低挡改换高挡观察半导体管的特性时，须先将峰值电压调到零值，换挡后再按需要的电压逐渐增加，否则容易击穿被测晶体管。
AC挡的设置专为二极管或其他元件的测试提供双向扫描，以便能同时显示器件正反向的特性曲线。
6. 电容平衡：由于集电极电流输出端对地存在各种杂散电容，都将形成电容性电流，因而在电流取样电阻上产生电压降，造成测量误差。为了尽量减小电容性电流，测试前应调节电容平衡，使容性电流减至小。
7. 电容平衡：是针对集电极变压器次级绕组对地电容的不对称，而再次进行电容平衡调节。
8. 电源开关及辉度调节：旋钮拉出，接通仪器电源，旋转旋钮可以改变示波管光点亮度。
9. 电源指示：接通电源时灯亮。
10. 聚焦旋钮：调节旋钮可使光迹清晰。
11. 荧光屏幕：示波管屏幕，外有座标刻度片。
12. 聚焦：与聚焦旋钮配合使用。
13. Y轴选择（电流/度）开关：具有22挡四种偏转作用的开关。可以进行集电极电流、基较电压、基较电流和外接的不同转换。
14. 电流/度&TImes;0.1倍率指示灯：灯亮时，仪器进入电流/度&TImes;0.1倍工作状态。
15. 垂直移位及电流/度倍率开关：调节迹线在垂直方向的移位。旋钮拉出，放大器增益扩大10倍，电流/度各挡IC标值&TImes;0.1，同时指示灯14亮。
16. Y轴增益：校正Y轴增益。
17. X轴增益：校正X轴增益。
18.显示开关：分转换、接地、校准三挡，其作用是：
⑴转换：使图像在Ⅰ、Ⅲ象限内相互转换，便于由NPN管转测PNP管时简化测试操作。
⑵接地：放大器输入接地，表示输入为零的基准点。
⑶校准：按下校准键，光点在X、Y轴方向移动的距离刚好为10度，以达到10度校正目的。
19. X轴移位：调节光迹在水平方向的移位。
20. X轴选择（电压/度）开关：可以进行集电极电压、基较电流、基较电压和外接四种功能的转换，共17挡。
21. “级/簇”调节：在0～10的范围内可连续调节阶梯信号的级数。
22. 调零旋钮 ：测试前，应首先调整阶梯信号的起始级零电平的位置。当荧光屏上已观察到基较阶梯信号后，按下测试台上选择按键“零电压”，观察光点停留在荧光屏上的位置，复位后调节零旋钮，使阶梯信号的起始级光点仍在该处，这样阶梯信号的零电位即被准确校正。
23. 阶梯信号选择开关：可以调节每级电流大小注入被测管的基较，作为测试各种特性曲线的基较信号源，共22挡。一般选用基较电流/级，当测试场效应管时选用基较源电压/级。
24. 串联电阻开关：当阶梯信号选择开关置于电压/级的位置时，串联电阻将串联在被测管的输入电路中。
25. 重复－－关按键：弹出为重复，阶梯信号重复出现；按下为关，阶梯信号处于待触发状态。
26. 阶梯信号待触发指示灯：重复按键按下时灯亮，阶梯信号进入待触发状态。
27. 单簇按键开关：单簇的按动其作用是使预先调整好的电压（电流）/级，出现一次阶梯信号后回到等待触发位置，因此可利用它瞬间作用的特性来观察被测管的各种极限特性。
28. 极性按键：极性的选择取决于被测管的特性。
29. 测试台
公司主要产品：网络分析仪，频谱分析仪，信号发生器(信号源)，示波器、综合测试仪，WIFI测试仪，音视频分析仪，数据采集器，万用表，蓝牙测试仪，EMI接收机，光谱分析仪，天馈线分析仪，阻抗转换器，视频分析仪，信号分析仪，屏蔽箱，数字电桥，电源，频率计，功率计，GPIB卡等射频仪器。
