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x射线荧光光谱矿石分析仪 X光谱分析仪 天瑞仪器生产
价格：面议
江苏天瑞仪器股份有限公司
联系人：江苏天瑞仪器股份有限公司
电话：13699806927
地址：国家高新区*园西路1888号
产品规格：
产品数量：20 个
包装说明：
关 键 词：x射线荧光光谱矿石分析仪
行 业：仪器仪表 分析仪器 X射线仪器
发布时间：2023-02-08
方法应用
①粉末压片法分析痕量元素
粉末压片法多用于分析痕量元素配合熔融法分析主量元素。
②粉末压片法分析主、次、痕量元素
粉末压片法也常用于地质、化探、冶金等样品的全分析。
③熔融后再粉碎压片
熔一块均匀、表面光滑的融片是一项技巧性很强的工作，有些样品不易脱模或容易碎裂，有的对Pt-Au坩埚有腐蚀作用，熔融后粉碎压片的方法（可用石墨坩埚代替Pt-Au坩埚）既可消除颗粒度效应的影响，又解决了不易成型的问题。熔融后再粉碎压片来测定地质试样中的全硫，这样可减小粉末样片保存过程中硫价态变化对分析准确度的影响。
一般来说，对于煤、水泥、岩石、土壤等样品的常规分析，用粉末压片法可达到分析精度和准确度为5%左右的要求。大多数痕量元素的检出限可达100μg/g左右，因X荧光光谱仪有较好的稳定性，还可通过延长计数时间使检出限进一步降低。用粉末压片法制样，结合自动进样装置和自动化分析仪，一次即可准确地分析20-30种元素，完全可以满足地质、矿产、商检等部门的分析需要。
如前所述，粉末压片是根据一定的分析对象进行试验，以选择制样条件，包括各种添加剂的使用、粉碎时间、压力、标样的选取等。这样造成的结果是，对一种分析对象提出的方法不能应用到其它试样中去。关键是尚未找到一种实用有效的粉碎技术，可将粉末试样碎至1-2μm，这种粉碎技术要简单易行，否则就失去了X荧光光谱仪分析快速方便的特点。
RoHS检测仪属天瑞系列产品中的机型，三重射线防护系统；人性化操作界面；综合应用经验系数法、基本参数法V8.0分析软件。元素测试范围从S-U。即可以管控RoHS指令的Pb、Cd、Hg、PBB和PBDE中的Br、六价铬的Cr和无卤指令中的Cl和Br元素。可完全满足RoHS/WEEE/无卤相关管控要求。精心设计的开放式工作曲线功能，特别适用于多材料的工厂制程控制。
天瑞的谱图对比功能，实时追踪供应商物料发生变化并及时预警，对RoHS/无卤及供应商管控具有无可比拟的优势。
性能优势：
1．三重射线保护（软件、硬件、迷宫设计），确保操作人员人身安全与意外操作带来的伤害；
2．大样品仓设计，相对于传统机型,在更小的主机内配置了更大空间；
3．采用新型的光路设计，大限度解决了空气光路对测量Cl元素的影响，保证了氯(Cl)元素的检出下限和稳定性；
4．新优化的V8.5分析软件可根据样品材质、形状和大小自动设定光管功率，既能延长光管使用寿命又能充分发挥探测器性能，大幅提高测量精度；
5．业内提供开放式工作曲线标定平台,可为用户量身定做佳的有害物质检测和控制方案；
6．融合了一系列的光谱处理方法，包括FFT（快速傅立叶变换滤波）、的背景扣除方法、微商自动寻峰和Quasi-Newton(准牛顿)优化算法等；
7．国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）等分析方法，全面保证测试数据的准确性；
8．可根据用户要求自行定制测试报告输出格式（Excel、PDF等），符合工厂多种统计及格式要求；
9．可以提供六价铬定量测试技术与附件、镀层测厚和多元素分析软件（用户需另行购置）；
10．多语种软件界面可供选择；
11．天瑞的快速谱图对析方法，供应商物料发生变化及时预警功能。
仪器技术指标：
1、仪器尺寸：515(W)x405(D)x350(H)mm
2、样品腔尺寸：380*340*55mm；
3、测试元素范围：S-U中的元素
4、检测范围：1ppm-
5、RoHS检测限：Cd、Cr≦2ppm,Hg、Br≦0.25 ppm, Pb≦1 ppm，Cl≤15ppm
6、测试样品类型：固体、粉末和液体
7、测量时间 ：
快速测量：3s（系统自动判断，s）
测量：120-400s ( 系统自动调整 )
8、佳分辨率：见探测系统详细参数说明
9、准直器：Φ2mm、Φ5mm
10、滤光片：8种复合滤光片自动切换
11、CCD观察：130万像素高清CCD
12、样品微动范围：XY8mm
13、输入电源：AC220V～240V，50/60Hz
14、额定功率：350W
15、净重：约40Kg
16、工作环境温度：温度15—30℃
17、工作环境相对湿度：≤85%（不结露）
18、稳定性:多次测量重复性误差小于0.1%
EDX系列应用范围
台式系列和便携式系列X荧光光谱分析仪，已经在矿产行业中得到了实际广泛应用并得到客户的认可。矿产行业应用客户及应用范围如下：
测试陶瓷、古陶瓷、青铜器等，作年代和真伪坚定
测试各种矿样和实验研究
测试铁氧体材料及磁性材料配比成分
1、X射线荧光光谱法是一种现代仪器分析方法，通过X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品；受激发的样品中的每一种元素会发出特征X射线（二次X射线）——这种特征X射线具有特定的能量和波长特性（莫塞莱定律），这些放射出来的二次X射线的能量及数量被探测系统测量，通过配套软件将这些射线信号转化为样品中各种组分元素的具体含量。
1.1 设备及试剂
设备：X射线荧光光谱仪一台；电子天平一台（精度0.01g）；自动压片机一台（压力不小于40T）；鼓风干燥箱一台；振动磨一台；非金属样品筛（200目）
试剂： 粉末（分析纯）；土壤标准物质；土壤样品
1.2 样品的采集、保存和前处理
土壤样品的采集和保持按照HJ/T166执行，样品的风干或烘干按照HJ/T166相关规定进行操作，样品研磨后过200目筛，于105℃烘干备用。
用电子天平称量5.00g过筛（200目）的土壤标准物质或样品和12.00g粉末（镶边材质），称量误差±0.05g。然后放入压片机中压片成型，压力30T（压力范围20～30T）,保压时间30s。
1.3 工作曲线的建立和样品分析
设定适当的测量条件，使用EDX3200S PLUS扫描标准物质（简称标样）GSS-1～GSS-15，建立土壤标样中关注元素含量与强度的线性工作曲线。然后，对未知样品进行测量。
2. 测量及数据分析
2.1 土壤中关注的金属元素及氧化物检出限测量
配有三组滤光片，根据土壤中关注元素的特性，设置测试条件。用土壤标样GSS-1-GSS-15标定仪器，建立环境土壤工作曲线。在环境土壤工作曲线下，使用高纯SiO2 做空白基体，连续测试11次，根据检出限公式： 3倍的空白基体的标准偏差除以仪器的灵敏度
终获得测量土壤样品的方法检出限
产品名称：X荧光光谱仪
测量元素范围：从钠（S）到铀（U）
元素含量分析范围： ppm—（不同元素，分析范围不同）
同时分析元素：一次性可测几十种元素
测量时间：60秒-300秒
探测器能量分辨率为：可达125eV
管压：5KV-70KV
管流：50μA-1000μA
测量对象状态：粉末、固体、液体
输入电压：AC 110V/220V
环境温度：15℃-30℃
环境湿度：35%-70%
外形尺寸：380mm×360mm×418mm
性能特点
**薄窗X光管，指标达到国际水平
新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000cps，精度更高。
FastSDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背
自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性
高信噪比的电子线路单元
针对不同元素自动切换滤光片，免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
仪器具备安全许可证，且对设备进行三重X射线屏蔽设计，保证了环境下无泄漏，让测试人员安全放心的使用
硬件联动装置，权限安全锁，保证软件失效的情况下还能对设备进行控制，保证设备在使用中的安全无放射
标准配置
**薄窗X光管
Fast SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
高信噪比电子线路单元
自动切换滤光片
自动稳谱装置
三重安全保护模式
相互的基体效应校正模型
多变量非线性回归程序
X荧光光谱仪是利用XRF技术解决国内水泥厂、钢铁公司对复杂成份、多类型榈中元素的快速、准确分析。该技术的主要特征为：利用低能X光激发待测元素，对Si、S、AI、Na、Mg等轻元素有良好的激发效果，并且测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率； 采用UHRD探测器，具有良好的能量线性和能量分辨率，及良好的能谱特性，较高的峰背比； 采用自动稳谱装置，保证了仪器工作的一致性； 利用解谱技术使谱峰分解，使采用UHRD探测器的分析仪对Si、S、AI等轻元素的测试具有和的分析精度；采用相似自动分类技术使分类更准确，有效地克服基效应对测量带来的影响；采用多参数的线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的消除。
